大功率激光芯片测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202422644690.6
申请日
2024-10-30
公开(公告)号
CN223295630U
公开(公告)日
2025-09-02
发明(设计)人
汪飞
申请人
北京蓝溪华兴光电科技有限公司
申请人地址
100070 北京市丰台区汽车博物馆西路8号院3号楼2层205-3室
IPC主分类号
G01M11/02
IPC分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
大功率激光芯片老化测试装置 [P]. 
汪飞 .
中国专利 :CN220289771U ,2024-01-02
[2]
大功率激光芯片测试老化夹具 [P]. 
李伟 ;
罗骏 .
中国专利 :CN212845745U ,2021-03-30
[3]
一种大功率芯片测试装置 [P]. 
宗荣军 .
中国专利 :CN208125883U ,2018-11-20
[4]
大功率变流器测试装置 [P]. 
杨文焕 .
中国专利 :CN2676215Y ,2005-02-02
[5]
大功率激光芯片测试老化夹具 [P]. 
李伟 ;
罗骏 .
中国专利 :CN111352024B ,2024-11-29
[6]
大功率激光芯片测试老化夹具 [P]. 
李伟 ;
罗骏 .
中国专利 :CN111352024A ,2020-06-30
[7]
大功率滑环性能测试装置 [P]. 
李佶 .
中国专利 :CN212110544U ,2020-12-08
[8]
大功率LED恒温测试装置 [P]. 
杨武 ;
杨建勋 .
中国专利 :CN202177505U ,2012-03-28
[9]
高功率激光芯片用测试装置 [P]. 
罗跃浩 ;
黄建军 ;
胡海洋 .
中国专利 :CN211043579U ,2020-07-17
[10]
一种大功率载板式裸芯片模块测试装置 [P]. 
罗亮 .
中国专利 :CN215415758U ,2022-01-04