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大功率激光芯片测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202422644690.6
申请日
:
2024-10-30
公开(公告)号
:
CN223295630U
公开(公告)日
:
2025-09-02
发明(设计)人
:
汪飞
申请人
:
北京蓝溪华兴光电科技有限公司
申请人地址
:
100070 北京市丰台区汽车博物馆西路8号院3号楼2层205-3室
IPC主分类号
:
G01M11/02
IPC分类号
:
G01R31/28
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-02
授权
授权
共 50 条
[1]
大功率激光芯片老化测试装置
[P].
汪飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京蓝溪华兴光电科技有限公司
北京蓝溪华兴光电科技有限公司
汪飞
.
中国专利
:CN220289771U
,2024-01-02
[2]
大功率激光芯片测试老化夹具
[P].
李伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李伟
;
罗骏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗骏
.
中国专利
:CN212845745U
,2021-03-30
[3]
一种大功率芯片测试装置
[P].
宗荣军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
宗荣军
.
中国专利
:CN208125883U
,2018-11-20
[4]
大功率变流器测试装置
[P].
杨文焕
论文数:
0
引用数:
0
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0
杨文焕
.
中国专利
:CN2676215Y
,2005-02-02
[5]
大功率激光芯片测试老化夹具
[P].
李伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
镭神技术(深圳)有限公司
镭神技术(深圳)有限公司
李伟
;
罗骏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
镭神技术(深圳)有限公司
镭神技术(深圳)有限公司
罗骏
.
中国专利
:CN111352024B
,2024-11-29
[6]
大功率激光芯片测试老化夹具
[P].
李伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
李伟
;
罗骏
论文数:
0
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0
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0
罗骏
.
中国专利
:CN111352024A
,2020-06-30
[7]
大功率滑环性能测试装置
[P].
李佶
论文数:
0
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0
h-index:
0
李佶
.
中国专利
:CN212110544U
,2020-12-08
[8]
大功率LED恒温测试装置
[P].
杨武
论文数:
0
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0
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0
杨武
;
杨建勋
论文数:
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0
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0
杨建勋
.
中国专利
:CN202177505U
,2012-03-28
[9]
高功率激光芯片用测试装置
[P].
罗跃浩
论文数:
0
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罗跃浩
;
黄建军
论文数:
0
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0
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黄建军
;
胡海洋
论文数:
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0
胡海洋
.
中国专利
:CN211043579U
,2020-07-17
[10]
一种大功率载板式裸芯片模块测试装置
[P].
罗亮
论文数:
0
引用数:
0
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罗亮
.
中国专利
:CN215415758U
,2022-01-04
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