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高功率激光芯片用测试装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201921648968.X
申请日：
2019-09-30
公开(公告)号：
CN211043579U
公开(公告)日：
2020-07-17
发明(设计)人：
罗跃浩 黄建军 胡海洋
申请人：
申请人地址：
215011 江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
苏州创元专利商标事务所有限公司 32103
代理人：
王健
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2020-07-17 授权 授权
共 50 条
[1]
激光芯片用高效测试系统 [P]. 
罗跃浩 ;
黄建军 ;
胡海洋 .
中国专利 :CN211043576U ,2020-07-17
[2]
大功率激光芯片测试装置 [P]. 
汪飞 .
中国专利 :CN223295630U ,2025-09-02
[3]
大功率激光芯片老化测试装置 [P]. 
汪飞 .
中国专利 :CN220289771U ,2024-01-02
[4]
激光芯片测试装置 [P]. 
郝自亮 ;
胡慧璇 ;
曾令玥 .
中国专利 :CN221859316U ,2024-10-18
[5]
一种高功率激光测试装置 [P]. 
刘怀亮 ;
马修泉 ;
王楠楠 .
中国专利 :CN214706569U ,2021-11-12
[6]
激光器芯片用测试装置 [P]. 
罗跃浩 ;
徐鹏嵩 ;
赵山 ;
王化发 .
中国专利 :CN210720639U ,2020-06-09
[7]
芯片老化测试装置 [P]. 
张洪利 .
中国专利 :CN221326691U ,2024-07-12
[8]
一种功率芯片测试装置 [P]. 
吕小蒙 ;
张朝夕 ;
庄潮 ;
李有璐 ;
高晓芹 .
中国专利 :CN220872528U ,2024-04-30
[9]
一种功率芯片测试装置 [P]. 
杜鹏搏 ;
崔朝探 ;
陈政 ;
李天赐 ;
曲韩宾 .
中国专利 :CN217879531U ,2022-11-22
[10]
半导体芯片的老化测试装置 [P]. 
罗跃浩 ;
黄建军 ;
胡海洋 .
中国专利 :CN211043577U ,2020-07-17
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