一种测试装置及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910205541.0

申请日：

2019-03-19

公开(公告)号：

CN109967382A

公开(公告)日：

2019-07-05

发明(设计)人：

马建强刘上

申请人：

申请人地址：

215341 江苏省苏州市昆山市千灯镇黄浦江路497号4幢

IPC主分类号：

B07C534

IPC分类号：

B07C502 B07C536

代理机构：

上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251

代理人：

郭桂峰

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-17	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):B07C 5/34 申请公布日:20190705
2019-07-05	公开	公开
2019-07-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B07C 5/34 申请日:20190319

共 50 条

[1]

一种内存测试装置及测试方法 [P].

邢科钰 .

中国专利 :CN110209544A ,2019-09-06

[2]

一种USB设备测试系统、测试方法及测试装置 [P].

黄伟 .

中国专利 :CN106844268B ,2024-06-14

[3]

一种USB设备测试系统、测试方法及测试装置 [P].

黄伟 .

中国专利 :CN106844268A ,2017-06-13

[4]

测试装置及方法 [P].

潘越 .

中国专利 :CN119068517A ,2024-12-03

[5]

测试装置及测试方法 [P].

田总福 ;

付博 ;

孙健 ;

张郑欣 ;

郭蕾 ;

张佳立 ;

崔军蕊 ;

张鹏举 ;

付和平 .

中国专利 :CN118937770A ,2024-11-12

[6]

一种测试装置、系统及测试方法 [P].

钱芳斌 ;

邓恩华 .

中国专利 :CN108563542B ,2024-11-22

[7]

一种测试装置、系统及测试方法 [P].

钱芳斌 ;

邓恩华 .

中国专利 :CN108563542A ,2018-09-21

[8]

一种测试装置、测试方法 [P].

王学坤 ;

刘跃 ;

周俊祥 ;

李成垒 ;

曹永明 .

中国专利 :CN113473349A ,2021-10-01

[9]

一种测试电路及测试装置 [P].

郑伟 ;

孔二虎 .

中国专利 :CN217901936U ,2022-11-25

[10]

一种测试板及测试装置 [P].

刘佰春 .

中国专利 :CN206945874U ,2018-01-30

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