一种测试装置、系统及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810415117.4

申请日：

2018-05-03

公开(公告)号：

CN108563542B

公开(公告)日：

2024-11-22

发明(设计)人：

钱芳斌邓恩华

申请人：

中山市江波龙电子有限公司

申请人地址：

528400 广东省中山市火炬开发区博爱七路191号2幢

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/273

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280

代理人：

钟子敏

法律状态：

授权

国省代码：

广东省中山市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-22	授权	授权

共 50 条

[1]

一种测试装置、系统及测试方法 [P].

钱芳斌 ;

邓恩华 .

中国专利 :CN108563542A ,2018-09-21

[2]

一种测试装置及系统 [P].

钱芳斌 ;

邓恩华 .

中国专利 :CN208384003U ,2019-01-15

[3]

一种测试装置及系统 [P].

钱芳斌 ;

付志平 ;

邓恩华 ;

李志雄 .

中国专利 :CN208385012U ,2019-01-15

[4]

测试装置及测试系统 [P].

汪志恒 ;

孙小虎 ;

王伟 .

中国专利 :CN223711726U ,2025-12-23

[5]

测试系统及测试装置 [P].

张丹丹 ;

赵围远 ;

李亚男 ;

张春云 .

中国专利 :CN212965853U ,2021-04-13

[6]

测试装置及测试方法 [P].

方琦 .

中国专利 :CN118625029A ,2024-09-10

[7]

测试装置、测试系统及测试方法 [P].

苏晓峰 ;

陆江 .

中国专利 :CN119380798B ,2025-04-29

[8]

测试装置、测试系统及测试方法 [P].

苏晓峰 ;

陆江 .

中国专利 :CN119380798A ,2025-01-28

[9]

测试装置、测试系统及测试方法 [P].

江志伟 ;

黄纯青 ;

李振东 ;

梁景洲 ;

蔡小洪 ;

李致亮 .

中国专利 :CN114545138A ,2022-05-27

[10]

一种存储测试装置及测试方法 [P].

余玉 ;

许展榕 .

中国专利 :CN119446243A ,2025-02-14

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