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一种存储测试装置及测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510039046.2
申请日
:
2025-01-10
公开(公告)号
:
CN119446243A
公开(公告)日
:
2025-02-14
发明(设计)人
:
余玉
许展榕
申请人
:
合肥康芯威存储技术有限公司
申请人地址
:
230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层
IPC主分类号
:
G11C29/50
IPC分类号
:
G11C29/56
代理机构
:
上海汉之律师事务所 31378
代理人
:
吴向青
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
安徽省 宣城市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-03-04
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/50申请日:20250110
2025-02-14
公开
公开
共 50 条
[1]
一种存储测试装置及其测试方法
[P].
余玉
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
合肥康芯威存储技术有限公司
合肥康芯威存储技术有限公司
余玉
;
许展榕
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0
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机构:
合肥康芯威存储技术有限公司
合肥康芯威存储技术有限公司
许展榕
.
中国专利
:CN117409847B
,2024-03-22
[2]
一种存储测试装置及其测试方法
[P].
余玉
论文数:
0
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0
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0
机构:
合肥康芯威存储技术有限公司
合肥康芯威存储技术有限公司
余玉
;
许展榕
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0
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0
机构:
合肥康芯威存储技术有限公司
合肥康芯威存储技术有限公司
许展榕
.
中国专利
:CN117409847A
,2024-01-16
[3]
一种存储测试装置及其测试方法
[P].
余玉
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
合肥康芯威存储技术有限公司
合肥康芯威存储技术有限公司
余玉
;
许展榕
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0
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0
机构:
合肥康芯威存储技术有限公司
合肥康芯威存储技术有限公司
许展榕
.
中国专利
:CN119889411B
,2025-07-29
[4]
一种存储测试装置及其测试方法
[P].
余玉
论文数:
0
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机构:
合肥康芯威存储技术有限公司
合肥康芯威存储技术有限公司
余玉
;
许展榕
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机构:
合肥康芯威存储技术有限公司
合肥康芯威存储技术有限公司
许展榕
.
中国专利
:CN119889411A
,2025-04-25
[5]
测试装置及测试方法
[P].
森田直志
论文数:
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森田直志
;
平出守
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0
平出守
.
中国专利
:CN102193056A
,2011-09-21
[6]
一种测试装置、系统及测试方法
[P].
钱芳斌
论文数:
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机构:
中山市江波龙电子有限公司
中山市江波龙电子有限公司
钱芳斌
;
邓恩华
论文数:
0
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0
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0
机构:
中山市江波龙电子有限公司
中山市江波龙电子有限公司
邓恩华
.
中国专利
:CN108563542B
,2024-11-22
[7]
一种测试装置、系统及测试方法
[P].
钱芳斌
论文数:
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钱芳斌
;
邓恩华
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邓恩华
.
中国专利
:CN108563542A
,2018-09-21
[8]
测试系统、测试方法、测试装置及存储介质
[P].
张洲川
论文数:
0
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0
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0
张洲川
.
中国专利
:CN109298266B
,2019-02-01
[9]
一种测试方法及测试装置
[P].
施杨炜
论文数:
0
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0
施杨炜
.
中国专利
:CN109684823A
,2019-04-26
[10]
一种测试装置及测试方法
[P].
赵玉伟
论文数:
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0
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机构:
苏州精实智能装备有限公司
苏州精实智能装备有限公司
赵玉伟
;
戴留兴
论文数:
0
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0
机构:
苏州精实智能装备有限公司
苏州精实智能装备有限公司
戴留兴
.
中国专利
:CN118125111B
,2024-11-15
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