一种存储测试装置及测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510039046.2
申请日
2025-01-10
公开(公告)号
CN119446243A
公开(公告)日
2025-02-14
发明(设计)人
余玉 许展榕
申请人
合肥康芯威存储技术有限公司
申请人地址
230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层
IPC主分类号
G11C29/50
IPC分类号
G11C29/56
代理机构
上海汉之律师事务所 31378
代理人
吴向青
法律状态
实质审查的生效
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
一种存储测试装置及其测试方法 [P]. 
余玉 ;
许展榕 .
中国专利 :CN117409847B ,2024-03-22
[2]
一种存储测试装置及其测试方法 [P]. 
余玉 ;
许展榕 .
中国专利 :CN117409847A ,2024-01-16
[3]
一种存储测试装置及其测试方法 [P]. 
余玉 ;
许展榕 .
中国专利 :CN119889411B ,2025-07-29
[4]
一种存储测试装置及其测试方法 [P]. 
余玉 ;
许展榕 .
中国专利 :CN119889411A ,2025-04-25
[5]
测试装置及测试方法 [P]. 
森田直志 ;
平出守 .
中国专利 :CN102193056A ,2011-09-21
[6]
一种测试装置、系统及测试方法 [P]. 
钱芳斌 ;
邓恩华 .
中国专利 :CN108563542B ,2024-11-22
[7]
一种测试装置、系统及测试方法 [P]. 
钱芳斌 ;
邓恩华 .
中国专利 :CN108563542A ,2018-09-21
[8]
测试系统、测试方法、测试装置及存储介质 [P]. 
张洲川 .
中国专利 :CN109298266B ,2019-02-01
[9]
一种测试方法及测试装置 [P]. 
施杨炜 .
中国专利 :CN109684823A ,2019-04-26
[10]
一种测试装置及测试方法 [P]. 
赵玉伟 ;
戴留兴 .
中国专利 :CN118125111B ,2024-11-15