一种存储测试装置及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510368746.6

申请日：

2025-03-27

公开(公告)号：

CN119889411B

公开(公告)日：

2025-07-29

发明(设计)人：

余玉许展榕

申请人：

合肥康芯威存储技术有限公司

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D3栋5层

IPC主分类号：

G11C29/14

IPC分类号：

G11C29/36 G11C29/44

代理机构：

上海汉之律师事务所 31378

代理人：

胡雨

法律状态：

公开

国省代码：

安徽省安庆市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-25	公开	公开
2025-07-29	授权	授权
2025-05-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/14申请日:20250327

共 50 条

[1]

一种存储测试装置及其测试方法 [P].

余玉 ;

许展榕 .

中国专利 :CN119889411A ,2025-04-25

[2]

一种存储测试装置及其测试方法 [P].

余玉 ;

许展榕 .

中国专利 :CN117409847B ,2024-03-22

[3]

一种存储测试装置及其测试方法 [P].

余玉 ;

许展榕 .

中国专利 :CN117409847A ,2024-01-16

[4]

一种存储测试装置及测试方法 [P].

余玉 ;

许展榕 .

中国专利 :CN119446243A ,2025-02-14

[5]

弹上存储测试装置 [P].

祖静 ;

张文栋 .

中国专利 :CN87214760U ,1988-08-10

[6]

微型存储测试装置 [P].

张河 ;

江小华 ;

程翔 ;

李豪杰 ;

孙全意 ;

丁立波 ;

聂伟荣 .

中国专利 :CN2539147Y ,2003-03-05

[7]

一种存储测试设备及其热插拔测试装置 [P].

王超 .

中国专利 :CN115129532B ,2024-06-25

[8]

一种存储测试设备及其热插拔测试装置 [P].

王超 .

中国专利 :CN115129532A ,2022-09-30

[9]

存储测试装置外壳（爆破测试用） [P].

赵恒毅 ;

张邱贺 .

中国专利 :CN305230894S ,2019-06-25

[10]

一种测试装置及其测试方法 [P].

柴立 .

中国专利 :CN104122689A ,2014-10-29

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