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一种电子元器件缺陷检测设备及检测方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110676185.8
申请日：
2021-06-18
公开(公告)号：
CN113267508A
公开(公告)日：
2021-08-17
发明(设计)人：
赵光宇
宋阳
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市吴江区江陵街道泉源路288号
IPC主分类号：
G01N2188
IPC分类号：
G01N2101
代理机构：
苏州智品专利代理事务所(普通合伙) 32345
代理人：
丰叶
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-08-17 | 公开 | 公开 |
| 2021-09-03 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20210618 |