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一种电子元器件缺陷检测设备

被引：0
申请号：
CN202121356683.6
申请日：
2021-06-18
公开(公告)号：
CN216870390U
公开(公告)日：
2022-07-01
发明(设计)人：
赵光宇 宋阳
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市吴江区江陵街道泉源路288号
IPC主分类号：
G01N2188
IPC分类号：
G01N2101
代理机构：
苏州智品专利代理事务所(普通合伙) 32345
代理人：
丰叶
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-07-01 授权 授权
共 50 条
[1]
一种电子元器件缺陷检测设备及检测方法 [P]. 
赵光宇 ;
宋阳 .
中国专利 :CN113267508A ,2021-08-17
[2]
一种电子元器件外观缺陷检测设备 [P]. 
乔磊 ;
麻栋天 .
中国专利 :CN215297106U ,2021-12-24
[3]
一种电子元器件的检测设备 [P]. 
郭莲朵 .
中国专利 :CN206788210U ,2017-12-22
[4]
电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
顾欣 .
中国专利 :CN203587523U ,2014-05-07
[5]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
杨国牛 ;
毛雪 .
中国专利 :CN222013986U ,2024-11-15
[6]
一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置 [P]. 
荣凤华 ;
李宁宁 .
中国专利 :CN222514544U ,2025-02-21
[7]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
韩越 ;
周洲 .
中国专利 :CN207675661U ,2018-07-31
[8]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
彭志强 .
中国专利 :CN216954468U ,2022-07-12
[9]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
乔磊 ;
陈姗姗 ;
于海瑞 ;
李冬菊 ;
曹丕 .
中国专利 :CN223192917U ,2025-08-05
[10]
电子元器件检测设备 [P]. 
李刚 ;
何志峰 .
中国专利 :CN209198340U ,2019-08-02
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