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一种电子元器件外观缺陷检测装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202422368753.X
申请日：
2024-09-27
公开(公告)号：
CN223192917U
公开(公告)日：
2025-08-05
发明(设计)人：
乔磊 陈姗姗 于海瑞 李冬菊 曹丕
申请人：
北京中科天航云链技术有限公司
申请人地址：
101400 北京市怀柔区雁栖经济开发区雁栖大街53号院13号楼二层208室
IPC主分类号：
G01N33/00
IPC分类号：
代理机构：
北京万思博知识产权代理有限公司 11694
代理人：
冀婷
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-08-05 授权 授权
共 50 条
[1]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
彭志强 .
中国专利 :CN216954468U ,2022-07-12
[2]
电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
顾欣 .
中国专利 :CN203587523U ,2014-05-07
[3]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
杨国牛 ;
毛雪 .
中国专利 :CN222013986U ,2024-11-15
[4]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
韩越 ;
周洲 .
中国专利 :CN207675661U ,2018-07-31
[5]
一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置 [P]. 
荣凤华 ;
李宁宁 .
中国专利 :CN222514544U ,2025-02-21
[6]
一种电子元器件两面外观缺陷检测装置 [P]. 
唐浩 ;
李松凌 .
中国专利 :CN211538640U ,2020-09-22
[7]
一种电子元器件外观缺陷检测设备 [P]. 
乔磊 ;
麻栋天 .
中国专利 :CN215297106U ,2021-12-24
[8]
一种电子元器件外观检测装置 [P]. 
赵丽琼 .
中国专利 :CN214953118U ,2021-11-30
[9]
一种电子元器件外观检测装置 [P]. 
吴丹阳 ;
魏元焜 .
中国专利 :CN215985759U ,2022-03-08
[10]
一种微小元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
郑艳文 ;
曾胜 ;
王飞 ;
邓文波 ;
李东红 .
中国专利 :CN118858306B ,2025-01-17
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