一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420787663.1

申请日：

2024-04-16

公开(公告)号：

CN222514544U

公开(公告)日：

2025-02-21

发明(设计)人：

荣凤华李宁宁

申请人：

济宁圣辉电子科技有限公司

申请人地址：

272500 山东省济宁市汶上县中都街道中都名郡4号楼2单元102

IPC主分类号：

G01N19/08

IPC分类号：

代理机构：

济宁仁礼信知识产权代理事务所(普通合伙) 37383

代理人：

李新苗

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-21	授权	授权

共 50 条

[1]

电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

顾欣 .

中国专利 :CN203587523U ,2014-05-07

[2]

一种电子元器件外观缺陷检测设备 [P].

乔磊 ;

麻栋天 .

中国专利 :CN215297106U ,2021-12-24

[3]

一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

杨国牛 ;

毛雪 .

中国专利 :CN222013986U ,2024-11-15

[4]

一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

乔磊 ;

陈姗姗 ;

于海瑞 ;

李冬菊 ;

曹丕 .

中国专利 :CN223192917U ,2025-08-05

[5]

一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

韩越 ;

周洲 .

中国专利 :CN207675661U ,2018-07-31

[6]

一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

彭志强 .

中国专利 :CN216954468U ,2022-07-12

[7]

一种电子元器件制造用外观缺陷检测机 [P].

马和骏 .

中国专利 :CN208162073U ,2018-11-30

[8]

一种电子元器件两面外观缺陷检测装置 [P].

唐浩 ;

李松凌 .

中国专利 :CN211538640U ,2020-09-22

[9]

一种电子元器件外观检测装置 [P].

赵丽琼 .

中国专利 :CN214953118U ,2021-11-30

[10]

一种用于电子元器件的外观检测装置 [P].

杨国牛 ;

虞帆 ;

陶洋 ;

金颖颖 ;

毛雪 ;

苗涛涛 .

中国专利 :CN218382453U ,2023-01-24

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