一种电子元器件外观缺陷检测装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202323660885.1
申请日
2023-12-29
公开(公告)号
CN222013986U
公开(公告)日
2024-11-15
发明(设计)人
杨国牛 毛雪
申请人
扬州西谷航测检测技术服务有限公司
申请人地址
225000 江苏省扬州市生态科技新城杭集镇龙王路4号3幢201室
IPC主分类号
G01N21/88
IPC分类号
G01N21/01
代理机构
南京源点知识产权代理有限公司 32545
代理人
任超
法律状态
授权
国省代码
江苏省 扬州市
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共 50 条
[1]
电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
顾欣 .
中国专利 :CN203587523U ,2014-05-07
[2]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
乔磊 ;
陈姗姗 ;
于海瑞 ;
李冬菊 ;
曹丕 .
中国专利 :CN223192917U ,2025-08-05
[3]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
韩越 ;
周洲 .
中国专利 :CN207675661U ,2018-07-31
[4]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
彭志强 .
中国专利 :CN216954468U ,2022-07-12
[5]
一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置 [P]. 
荣凤华 ;
李宁宁 .
中国专利 :CN222514544U ,2025-02-21
[6]
一种电子元器件两面外观缺陷检测装置 [P]. 
唐浩 ;
李松凌 .
中国专利 :CN211538640U ,2020-09-22
[7]
一种电子元器件外观缺陷检测设备 [P]. 
乔磊 ;
麻栋天 .
中国专利 :CN215297106U ,2021-12-24
[8]
一种电子元器件外观检测装置 [P]. 
赵丽琼 .
中国专利 :CN214953118U ,2021-11-30
[9]
一种电子元器件外观检测装置 [P]. 
吴丹阳 ;
魏元焜 .
中国专利 :CN215985759U ,2022-03-08
[10]
一种微小元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
郑艳文 ;
曾胜 ;
王飞 ;
邓文波 ;
李东红 .
中国专利 :CN118858306B ,2025-01-17