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一种电子元器件外观缺陷检测装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202323660885.1
申请日
:
2023-12-29
公开(公告)号
:
CN222013986U
公开(公告)日
:
2024-11-15
发明(设计)人
:
杨国牛
毛雪
申请人
:
扬州西谷航测检测技术服务有限公司
申请人地址
:
225000 江苏省扬州市生态科技新城杭集镇龙王路4号3幢201室
IPC主分类号
:
G01N21/88
IPC分类号
:
G01N21/01
代理机构
:
南京源点知识产权代理有限公司 32545
代理人
:
任超
法律状态
:
授权
国省代码
:
江苏省 扬州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-11-15
授权
授权
共 50 条
[1]
电子元器件外观缺陷检测装置
[P].
顾欣
论文数:
0
引用数:
0
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0
顾欣
.
中国专利
:CN203587523U
,2014-05-07
[2]
一种电子元器件外观缺陷检测装置
[P].
乔磊
论文数:
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0
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机构:
北京中科天航云链技术有限公司
北京中科天航云链技术有限公司
乔磊
;
陈姗姗
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机构:
北京中科天航云链技术有限公司
北京中科天航云链技术有限公司
陈姗姗
;
于海瑞
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0
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机构:
北京中科天航云链技术有限公司
北京中科天航云链技术有限公司
于海瑞
;
李冬菊
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机构:
北京中科天航云链技术有限公司
北京中科天航云链技术有限公司
李冬菊
;
曹丕
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0
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机构:
北京中科天航云链技术有限公司
北京中科天航云链技术有限公司
曹丕
.
中国专利
:CN223192917U
,2025-08-05
[3]
一种电子元器件外观缺陷检测装置
[P].
韩越
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韩越
;
周洲
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周洲
.
中国专利
:CN207675661U
,2018-07-31
[4]
一种电子元器件外观缺陷检测装置
[P].
彭志强
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0
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0
彭志强
.
中国专利
:CN216954468U
,2022-07-12
[5]
一种电子元器件制造用外观缺陷检测装置
[P].
荣凤华
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机构:
济宁圣辉电子科技有限公司
济宁圣辉电子科技有限公司
荣凤华
;
李宁宁
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机构:
济宁圣辉电子科技有限公司
济宁圣辉电子科技有限公司
李宁宁
.
中国专利
:CN222514544U
,2025-02-21
[6]
一种电子元器件两面外观缺陷检测装置
[P].
唐浩
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唐浩
;
李松凌
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李松凌
.
中国专利
:CN211538640U
,2020-09-22
[7]
一种电子元器件外观缺陷检测设备
[P].
乔磊
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乔磊
;
麻栋天
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0
麻栋天
.
中国专利
:CN215297106U
,2021-12-24
[8]
一种电子元器件外观检测装置
[P].
赵丽琼
论文数:
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0
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0
赵丽琼
.
中国专利
:CN214953118U
,2021-11-30
[9]
一种电子元器件外观检测装置
[P].
吴丹阳
论文数:
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吴丹阳
;
魏元焜
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魏元焜
.
中国专利
:CN215985759U
,2022-03-08
[10]
一种微小元器件外观缺陷检测装置
[P].
郑艳文
论文数:
0
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机构:
珠海市奥德维科技有限公司
珠海市奥德维科技有限公司
郑艳文
;
曾胜
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机构:
珠海市奥德维科技有限公司
珠海市奥德维科技有限公司
曾胜
;
王飞
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机构:
珠海市奥德维科技有限公司
珠海市奥德维科技有限公司
王飞
;
邓文波
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机构:
珠海市奥德维科技有限公司
珠海市奥德维科技有限公司
邓文波
;
李东红
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机构:
珠海市奥德维科技有限公司
珠海市奥德维科技有限公司
李东红
.
中国专利
:CN118858306B
,2025-01-17
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