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一种电子元器件外观检测装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202120107638.0
申请日：
2021-01-15
公开(公告)号：
CN215985759U
公开(公告)日：
2022-03-08
发明(设计)人：
吴丹阳 魏元焜
申请人：
申请人地址：
118000 辽宁省丹东市振兴区洋河大街30号
IPC主分类号：
G01N2184
IPC分类号：
G01N2101
代理机构：
北京君泊知识产权代理有限公司 11496
代理人：
李丹
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-03-08 授权 授权
共 50 条
[1]
一种电子元器件外观检测装置 [P]. 
赵丽琼 .
中国专利 :CN214953118U ,2021-11-30
[2]
一种电子元器件外观检测装置 [P]. 
孙磊 ;
许海财 ;
陈伦森 .
中国专利 :CN109946308B ,2019-06-28
[3]
一种用于电子元器件的外观检测装置 [P]. 
杨国牛 ;
虞帆 ;
陶洋 ;
金颖颖 ;
毛雪 ;
苗涛涛 .
中国专利 :CN218382453U ,2023-01-24
[4]
电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
顾欣 .
中国专利 :CN203587523U ,2014-05-07
[5]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
杨国牛 ;
毛雪 .
中国专利 :CN222013986U ,2024-11-15
[6]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
乔磊 ;
陈姗姗 ;
于海瑞 ;
李冬菊 ;
曹丕 .
中国专利 :CN223192917U ,2025-08-05
[7]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
韩越 ;
周洲 .
中国专利 :CN207675661U ,2018-07-31
[8]
一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P]. 
彭志强 .
中国专利 :CN216954468U ,2022-07-12
[9]
一种元器件外观检测装置 [P]. 
张泽 ;
臧春和 ;
谢尚策 ;
秦昆文 .
中国专利 :CN117929262A ,2024-04-26
[10]
一种元器件外观检测装置 [P]. 
张泽 ;
臧春和 ;
谢尚策 ;
秦昆文 .
中国专利 :CN117929262B ,2025-06-20
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