一种电子产品测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811369394.2

申请日：

2018-11-16

公开(公告)号：

CN109307818A

公开(公告)日：

2019-02-05

发明(设计)人：

王志纯

申请人：

申请人地址：

230000 安徽省合肥市肥东县店埠镇桥头集路斌峰控股写字楼1105

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G05B19042 G08C1702

代理机构：

北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411

代理人：

苏友娟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-03-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20181116
2019-02-05	公开	公开
2021-07-30	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01R 31/00 申请公布日:20190205

共 50 条

[1]

一种电子产品异常测试系统 [P].

苏祺云 ;

李崇赞 .

中国专利 :CN221465662U ,2024-08-02

[2]

一种车载电子产品的并行测试系统 [P].

李建林 ;

张廷 .

中国专利 :CN222280740U ,2024-12-31

[3]

通讯电子产品测试系统与通讯电子产品测试方法 [P].

牛佛林 ;

吴桂鑫 ;

张博珺 ;

陈春荣 ;

毛肇文 ;

郭兴农 .

中国专利 :CN113660135A ,2021-11-16

[4]

一种电子产品断短路测试系统 [P].

徐海 .

中国专利 :CN215116708U ,2021-12-10

[5]

电子产品可靠性测试系统 [P].

林征平 ;

陈维潮 ;

黄训合 ;

刘群 .

中国专利 :CN210534251U ,2020-05-15

[6]

一种电子产品老化测试系统 [P].

王震 ;

宋静 .

中国专利 :CN119618319A ,2025-03-14

[7]

电子产品可靠性测试系统 [P].

林征平 ;

陈维潮 ;

黄训合 ;

刘群 .

中国专利 :CN110426585A ,2019-11-08

[8]

一种电子产品老化测试系统 [P].

束龙胜 ;

崔文梅 ;

高峰 ;

张希 ;

吴小春 ;

李颖 ;

汪菁涵 ;

杨先忠 ;

沈松 ;

马小群 .

中国专利 :CN104198861A ,2014-12-10

[9]

一种电子产品的测试系统 [P].

白崇龙 .

中国专利 :CN216285477U ,2022-04-12

[10]

一种电子产品老化测试系统 [P].

王震 ;

宋静 .

中国专利 :CN119618319B ,2025-07-15

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