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一种电子产品断短路测试系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202121009643.4
申请日
:
2021-05-12
公开(公告)号
:
CN215116708U
公开(公告)日
:
2021-12-10
发明(设计)人
:
徐海
申请人
:
申请人地址
:
523000 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区科技二路10号(中科科技研发中心)A区10层07室
IPC主分类号
:
G01R3152
IPC分类号
:
G01R3154
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-12-10
授权
授权
共 50 条
[1]
一种电子产品断短路测试系统及测试方法
[P].
李刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
李刚
.
中国专利
:CN115343651A
,2022-11-15
[2]
电子产品可靠性测试系统
[P].
林征平
论文数:
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林征平
;
陈维潮
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陈维潮
;
黄训合
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黄训合
;
刘群
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0
刘群
.
中国专利
:CN210534251U
,2020-05-15
[3]
一种电子产品测试系统
[P].
王志纯
论文数:
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0
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0
王志纯
.
中国专利
:CN109307818A
,2019-02-05
[4]
一种电子产品批量老化测试系统
[P].
张全喜
论文数:
0
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0
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0
张全喜
;
刘光金
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刘光金
.
中国专利
:CN211453815U
,2020-09-08
[5]
电子产品可靠性测试系统
[P].
林征平
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0
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林征平
;
陈维潮
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陈维潮
;
黄训合
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黄训合
;
刘群
论文数:
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刘群
.
中国专利
:CN110426585A
,2019-11-08
[6]
一种电子产品的测试系统
[P].
白崇龙
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白崇龙
.
中国专利
:CN216285477U
,2022-04-12
[7]
一种电子产品异常测试系统
[P].
苏祺云
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机构:
深圳市凯迪仕智能科技股份有限公司
深圳市凯迪仕智能科技股份有限公司
苏祺云
;
李崇赞
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机构:
深圳市凯迪仕智能科技股份有限公司
深圳市凯迪仕智能科技股份有限公司
李崇赞
.
中国专利
:CN221465662U
,2024-08-02
[8]
一种车载电子产品的并行测试系统
[P].
李建林
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机构:
纳瓦电子(上海)有限公司
纳瓦电子(上海)有限公司
李建林
;
张廷
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机构:
纳瓦电子(上海)有限公司
纳瓦电子(上海)有限公司
张廷
.
中国专利
:CN222280740U
,2024-12-31
[9]
通讯电子产品测试系统与通讯电子产品测试方法
[P].
牛佛林
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牛佛林
;
吴桂鑫
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吴桂鑫
;
张博珺
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张博珺
;
陈春荣
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陈春荣
;
毛肇文
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毛肇文
;
郭兴农
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郭兴农
.
中国专利
:CN113660135A
,2021-11-16
[10]
一种电子产品充电功能测试系统
[P].
周霄
论文数:
0
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周霄
.
中国专利
:CN109884416A
,2019-06-14
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