一种电子产品批量老化测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201922249477.4

申请日：

2019-12-16

公开(公告)号：

CN211453815U

公开(公告)日：

2020-09-08

发明(设计)人：

张全喜刘光金

申请人：

申请人地址：

400700 重庆市北碚区云汉大道117号附386号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

上海光华专利事务所(普通合伙) 31219

代理人：

尹丽云

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-08	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电子产品老化测试系统 [P].

王震 ;

宋静 .

中国专利 :CN119618319A ,2025-03-14

[2]

一种电子产品老化测试系统 [P].

束龙胜 ;

崔文梅 ;

高峰 ;

张希 ;

吴小春 ;

李颖 ;

汪菁涵 ;

杨先忠 ;

沈松 ;

马小群 .

中国专利 :CN104198861A ,2014-12-10

[3]

一种电子产品老化测试系统 [P].

王震 ;

宋静 .

中国专利 :CN119618319B ,2025-07-15

[4]

电子产品老化测试系统以及老化测试方法 [P].

姜良华 ;

王之磊 ;

黄桅 .

中国专利 :CN104007340A ,2014-08-27

[5]

电子产品老化测试设备 [P].

刘文生 .

中国专利 :CN206601449U ,2017-10-31

[6]

电子产品老化测试系统及装置 [P].

陈志杰 ;

余祥军 .

中国专利 :CN117825855A ,2024-04-05

[7]

一种电子产品老化测试系统及装置 [P].

魏斌 ;

宫冠英 ;

王立鑫 .

中国专利 :CN117907731B ,2024-05-31

[8]

一种电子产品老化测试系统及装置 [P].

魏斌 ;

宫冠英 ;

王立鑫 .

中国专利 :CN117907731A ,2024-04-19

[9]

电子产品老化测试设备 [P].

黄本涛 ;

程传博 .

中国专利 :CN214703822U ,2021-11-12

[10]

电子产品老化载具 [P].

宾兴 .

中国专利 :CN202562958U ,2012-11-28

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