电子产品老化测试系统及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410020315.6

申请日：

2024-01-04

公开(公告)号：

CN117825855A

公开(公告)日：

2024-04-05

发明(设计)人：

陈志杰余祥军

申请人：

深圳市振邦智能科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市光明新区玉塘街道根玉路与南明路交汇处华宏信通工业园4栋1-6楼

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R22/06

代理机构：

深圳市精英专利事务所 44242

代理人：

戴艳艳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-23	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20240104
2024-04-05	公开	公开

共 50 条

[1]

电子产品老化测试系统以及老化测试方法 [P].

姜良华 ;

王之磊 ;

黄桅 .

中国专利 :CN104007340A ,2014-08-27

[2]

一种电子产品老化测试系统及装置 [P].

魏斌 ;

宫冠英 ;

王立鑫 .

中国专利 :CN117907731B ,2024-05-31

[3]

一种电子产品老化测试系统及装置 [P].

魏斌 ;

宫冠英 ;

王立鑫 .

中国专利 :CN117907731A ,2024-04-19

[4]

电子产品老化载具及老化测试方法 [P].

宾兴 .

中国专利 :CN102854340B ,2013-01-02

[5]

一种电子产品老化测试系统 [P].

王震 ;

宋静 .

中国专利 :CN119618319A ,2025-03-14

[6]

电子产品开关机老化测试系统 [P].

李二勇 .

中国专利 :CN205880079U ,2017-01-11

[7]

一种电子产品老化测试系统 [P].

束龙胜 ;

崔文梅 ;

高峰 ;

张希 ;

吴小春 ;

李颖 ;

汪菁涵 ;

杨先忠 ;

沈松 ;

马小群 .

中国专利 :CN104198861A ,2014-12-10

[8]

一种电子产品老化测试系统 [P].

王震 ;

宋静 .

中国专利 :CN119618319B ,2025-07-15

[9]

一种电子产品批量老化测试系统 [P].

张全喜 ;

刘光金 .

中国专利 :CN211453815U ,2020-09-08

[10]

电子产品老化测试设备 [P].

黄本涛 ;

程传博 .

中国专利 :CN214703822U ,2021-11-12

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