电子产品老化载具及老化测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210077740.6

申请日：

2012-03-22

公开(公告)号：

CN102854340B

公开(公告)日：

2013-01-02

发明(设计)人：

宾兴

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区沙井街道马安山第二工业区西区马安山科技园第一栋2楼C座

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3100

代理机构：

深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281

代理人：

郭燕

法律状态：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-22	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 1/04 变更事项:专利权人变更前:深圳市兴禾自动化有限公司变更后:深圳市兴禾自动化股份有限公司变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市宝安区沙井街道马安山第二工业区西区马安山科技园第一栋2楼C座变更后:518000 广东省深圳市宝安区沙井街道马安山社区南环路科技园工业区内38栋一层
2015-05-06	授权	授权
2013-02-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101395931303 IPC(主分类):G01R 1/04 专利申请号:2012100777406 申请日:20120322
2013-01-02	公开	公开

共 50 条

[1]

电子产品老化载具 [P].

宾兴 .

中国专利 :CN202562958U ,2012-11-28

[2]

电子产品老化测试系统以及老化测试方法 [P].

姜良华 ;

王之磊 ;

黄桅 .

中国专利 :CN104007340A ,2014-08-27

[3]

电子产品老化测试系统及装置 [P].

陈志杰 ;

余祥军 .

中国专利 :CN117825855A ,2024-04-05

[4]

电子产品老化测试设备 [P].

黄本涛 ;

程传博 .

中国专利 :CN214703822U ,2021-11-12

[5]

电子产品老化测试设备 [P].

刘文生 .

中国专利 :CN206601449U ,2017-10-31

[6]

一种电子产品老化测试系统 [P].

王震 ;

宋静 .

中国专利 :CN119618319A ,2025-03-14

[7]

电子产品开关机老化测试系统 [P].

李二勇 .

中国专利 :CN205880079U ,2017-01-11

[8]

一种电子产品老化测试系统 [P].

束龙胜 ;

崔文梅 ;

高峰 ;

张希 ;

吴小春 ;

李颖 ;

汪菁涵 ;

杨先忠 ;

沈松 ;

马小群 .

中国专利 :CN104198861A ,2014-12-10

[9]

一种电子产品老化测试系统 [P].

王震 ;

宋静 .

中国专利 :CN119618319B ,2025-07-15

[10]

电子产品老化测试方法和装置 [P].

贾天亮 .

中国专利 :CN105676024A ,2016-06-15

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