一种电子产品充电功能测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711275498.2

申请日：

2017-12-06

公开(公告)号：

CN109884416A

公开(公告)日：

2019-06-14

发明(设计)人：

周霄

申请人：

申请人地址：

710604 陕西省西安市临潼区相桥办宽容村周家组

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-05-25	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R 31/00 申请公布日:20190614
2019-06-14	公开	公开

共 50 条

[1]

电子产品充电功能测试装置 [P].

蔡瀚毅 .

中国专利 :CN101498766A ,2009-08-05

[2]

一种电子产品的测试系统 [P].

白崇龙 .

中国专利 :CN216285477U ,2022-04-12

[3]

一种电子产品测试系统 [P].

王志纯 .

中国专利 :CN109307818A ,2019-02-05

[4]

通讯电子产品测试系统与通讯电子产品测试方法 [P].

牛佛林 ;

吴桂鑫 ;

张博珺 ;

陈春荣 ;

毛肇文 ;

郭兴农 .

中国专利 :CN113660135A ,2021-11-16

[5]

一种电子产品断短路测试系统 [P].

徐海 .

中国专利 :CN215116708U ,2021-12-10

[6]

一种电子产品批量老化测试系统 [P].

张全喜 ;

刘光金 .

中国专利 :CN211453815U ,2020-09-08

[7]

电子产品可靠性测试系统 [P].

林征平 ;

陈维潮 ;

黄训合 ;

刘群 .

中国专利 :CN210534251U ,2020-05-15

[8]

一种电子产品老化测试系统 [P].

王震 ;

宋静 .

中国专利 :CN119618319A ,2025-03-14

[9]

电子产品可靠性测试系统 [P].

林征平 ;

陈维潮 ;

黄训合 ;

刘群 .

中国专利 :CN110426585A ,2019-11-08

[10]

一种电子产品老化测试系统 [P].

束龙胜 ;

崔文梅 ;

高峰 ;

张希 ;

吴小春 ;

李颖 ;

汪菁涵 ;

杨先忠 ;

沈松 ;

马小群 .

中国专利 :CN104198861A ,2014-12-10

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