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电子元件测试装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201210574183.9
申请日：
2012-12-26
公开(公告)号：
CN103185849A
公开(公告)日：
2013-07-03
发明(设计)人：
山下毅
申请人：
申请人地址：
日本东京都练马区旭町一丁目32番1号
IPC主分类号：
G01R3100
IPC分类号：
代理机构：
深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217
代理人：
高占元
法律状态：
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2015-10-07 | 发明专利申请公布后的视为撤回 | 发明专利申请公布后的视为撤回 号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101721630812 IPC(主分类):G01R 31/00 专利申请号:2012105741839 申请公布日:20130703 |
| 2013-07-03 | 公开 | 公开 |
| 2013-07-31 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101498922198 IPC(主分类):G01R 31/00 专利申请号:2012105741839 申请日:20121226 |