电子元件测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201721294032.2
申请日
2017-10-09
公开(公告)号
CN207164175U
公开(公告)日
2018-03-30
发明(设计)人
张峰
申请人
申请人地址
215699 江苏省苏州市张家港市杨舍镇华昌路(沙洲湖科创园)西北工业大学(张家港)智能装备技术产业化研究院有限公司
IPC主分类号
G01R3101
IPC分类号
代理机构
苏州市港澄专利代理事务所(普通合伙) 32304
代理人
马丽丽
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
电子元件测试装置 [P]. 
张峰 .
中国专利 :CN107561396A ,2018-01-09
[2]
电子元件测试装置 [P]. 
徐铭阳 ;
胡冲 ;
鲍军其 ;
王昭敦 .
中国专利 :CN217133303U ,2022-08-05
[3]
电子元件的测试装置 [P]. 
王士伟 .
中国专利 :CN2512113Y ,2002-09-18
[4]
电子元件测试装置 [P]. 
卢昱呈 ;
林冠龙 ;
吴振维 .
中国专利 :CN217787187U ,2022-11-11
[5]
电子元件测试装置 [P]. 
肖旭辉 .
中国专利 :CN205484609U ,2016-08-17
[6]
电子元件测试装置 [P]. 
徐铭阳 ;
胡冲 ;
鲍军其 ;
王昭敦 .
中国专利 :CN217466472U ,2022-09-20
[7]
电子元件测试装置 [P]. 
纪建兆 ;
卢昱呈 ;
林芳旭 .
中国专利 :CN217484419U ,2022-09-23
[8]
电子元件的测试装置 [P]. 
王士伟 .
中国专利 :CN2512112Y ,2002-09-18
[9]
电子元件测试装置 [P]. 
卢昱呈 ;
林芳旭 .
中国专利 :CN115508584A ,2022-12-23
[10]
电子元件测试装置 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN118294724A ,2024-07-05