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电子元件的测试装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN01270340.0
申请日：
2001-11-08
公开(公告)号：
CN2512113Y
公开(公告)日：
2002-09-18
发明(设计)人：
王士伟
申请人：
申请人地址：
台湾省台北县五股乡五股工业区五权路43号
IPC主分类号：
H01L2166
IPC分类号：
G01R102
代理机构：
北京三幸商标专利事务所
代理人：
刘激扬
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2002-09-18 授权 授权
2005-12-28 专利权的终止未缴年费专利权终止 专利权的终止未缴年费专利权终止
共 50 条
[1]
电子元件测试装置 [P]. 
徐铭阳 ;
胡冲 ;
鲍军其 ;
王昭敦 .
中国专利 :CN217133303U ,2022-08-05
[2]
电子元件测试装置 [P]. 
徐铭阳 ;
胡冲 ;
鲍军其 ;
王昭敦 .
中国专利 :CN217466472U ,2022-09-20
[3]
电子元件测试装置 [P]. 
张峰 .
中国专利 :CN207164175U ,2018-03-30
[4]
电子元件的测试装置 [P]. 
王士伟 .
中国专利 :CN2512112Y ,2002-09-18
[5]
电子元件测试装置 [P]. 
卢昱呈 ;
林冠龙 ;
吴振维 .
中国专利 :CN217787187U ,2022-11-11
[6]
电子元件测试装置 [P]. 
肖旭辉 .
中国专利 :CN205484609U ,2016-08-17
[7]
电子元件测试装置 [P]. 
张峰 .
中国专利 :CN107561396A ,2018-01-09
[8]
电子元件测试装置 [P]. 
纪建兆 ;
卢昱呈 ;
林芳旭 .
中国专利 :CN217484419U ,2022-09-23
[9]
电子元件的性能测试装置 [P]. 
陈景明 .
中国专利 :CN203054110U ,2013-07-10
[10]
电子元件的测试方法和电子元件测试装置 [P]. 
小林义仁 .
中国专利 :CN1138984C ,2000-03-01
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