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电子元件测试装置

被引：0
申请号：
CN202122901327.4
申请日：
2021-11-24
公开(公告)号：
CN217133303U
公开(公告)日：
2022-08-05
发明(设计)人：
徐铭阳 胡冲 鲍军其 王昭敦
申请人：
申请人地址：
310051 浙江省杭州市滨江区聚才路410号
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
代理机构：
杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250
代理人：
何凯歌
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-08-05 授权 授权
共 50 条
[1]
电子元件的测试装置 [P]. 
王士伟 .
中国专利 :CN2512113Y ,2002-09-18
[2]
电子元件测试装置 [P]. 
徐铭阳 ;
胡冲 ;
鲍军其 ;
王昭敦 .
中国专利 :CN217466472U ,2022-09-20
[3]
电子元件测试装置 [P]. 
张峰 .
中国专利 :CN207164175U ,2018-03-30
[4]
电子元件测试装置 [P]. 
卢昱呈 ;
林冠龙 ;
吴振维 .
中国专利 :CN217787187U ,2022-11-11
[5]
电子元件测试装置 [P]. 
肖旭辉 .
中国专利 :CN205484609U ,2016-08-17
[6]
电子元件测试装置 [P]. 
陈建名 ;
吕孟恭 ;
陈勇志 .
中国专利 :CN110542802A ,2019-12-06
[7]
电子元件测试装置 [P]. 
张峰 .
中国专利 :CN107561396A ,2018-01-09
[8]
电子元件测试装置 [P]. 
纪建兆 ;
卢昱呈 ;
林芳旭 .
中国专利 :CN217484419U ,2022-09-23
[9]
电子元件的测试装置 [P]. 
蔡丽文 ;
何震宏 .
中国专利 :CN201812003U ,2011-04-27
[10]
电子元件的测试装置 [P]. 
王士伟 .
中国专利 :CN2512112Y ,2002-09-18
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