共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
电子元件的测试方法和电子元件测试装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN99117943.9
申请日：
1999-08-20
公开(公告)号：
CN1138984C
公开(公告)日：
2000-03-01
发明(设计)人：
小林义仁
申请人：
申请人地址：
日本东京
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
代理机构：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人：
杜日新
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2004-02-18 | 授权 | 授权 |
| 2000-03-01 | 公开 | 公开 |
| 2012-10-24 | 专利权的终止 | 未缴年费专利权终止 号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101338711188 IPC(主分类):G01R 31/26 专利号:ZL991179439 申请日:19990820 授权公告日:20040218 终止日期:20110820 |
| 2000-01-12 | 实质审查请求的生效 | 实质审查请求的生效 |