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小角度X射线散射测量

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201980056235.3
申请日：
2019-07-04
公开(公告)号：
CN112654861A
公开(公告)日：
2021-04-13
发明(设计)人：
亚历克斯·迪科波尔特塞夫 马修·沃明顿 尤里·文施泰因 亚历山大·克罗赫马尔
申请人：
申请人地址：
以色列米格达勒埃梅克
IPC主分类号：
G01N23201
IPC分类号：
G01N23046 G01N2320 G01N23207 G01N2322 G01N23223
代理机构：
北京安信方达知识产权代理有限公司 11262
代理人：
张少波;杨明钊
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-04-13 公开 公开
2021-04-30 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/201 申请日:20190704
共 50 条
[1]
小角度X射线散射测量 [P]. 
亚历克斯·迪科波尔特塞夫 ;
马修·沃明顿 ;
尤里·文施泰因 ;
亚历山大·克罗赫马尔 .
:CN112654861B ,2024-06-11
[2]
小角度X射线散射测量 [P]. 
亚历克斯·迪科波尔特塞夫 ;
马修·沃明顿 ;
尤里·文施泰因 ;
亚历山大·克罗赫马尔 .
:CN118624653A ,2024-09-10
[3]
用于小角X射线散射测量的X射线检测光学器件 [P]. 
马修·沃明顿 ;
亚瑟·佩莱德 ;
亚历山大·克罗赫马尔 .
中国专利 :CN110398506A ,2019-11-01
[4]
用于小角X射线散射测量的X射线源光学器件 [P]. 
马修·沃明顿 ;
亚历山大·克罗赫马尔 ;
尤里·文施泰因 .
:CN110398507B ,2024-05-03
[5]
用于小角X射线散射测量的X射线检测光学器件 [P]. 
马修·沃明顿 ;
亚瑟·佩莱德 ;
亚历山大·克罗赫马尔 .
:CN110398506B ,2024-05-03
[6]
用于小角X射线散射测量的X射线源光学器件 [P]. 
马修·沃明顿 ;
亚历山大·克罗赫马尔 ;
尤里·文施泰因 .
中国专利 :CN110398507A ,2019-11-01
[7]
用于小角X射线散射测量的晶片对准 [P]. 
尤里·文施泰因 ;
亚历山大·克罗赫马尔 ;
亚瑟·佩莱德 ;
盖伊·谢弗 ;
马修·沃明顿 .
:CN110398505B ,2024-03-08
[8]
用于小角X射线散射测量的晶片对准 [P]. 
尤里·文施泰因 ;
亚历山大·克罗赫马尔 ;
亚瑟·佩莱德 ;
盖伊·谢弗 ;
马修·沃明顿 .
中国专利 :CN110398505A ,2019-11-01
[9]
透射小角度X射线散射计量系统 [P]. 
A·舒杰葛洛夫 ;
A·吉里纽 ;
S·佐卢布斯基 .
中国专利 :CN110546489A ,2019-12-06
[10]
透射小角度X射线散射计量系统 [P]. 
A·舒杰葛洛夫 ;
A·吉里纽 ;
S·佐卢布斯基 .
美国专利 :CN118837389A ,2024-10-25
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