用于小角X射线散射测量的晶片对准

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910330447.8

申请日：

2019-04-23

公开(公告)号：

CN110398505B

公开(公告)日：

2024-03-08

发明(设计)人：

尤里·文施泰因亚历山大·克罗赫马尔亚瑟·佩莱德盖伊·谢弗马修·沃明顿

申请人：

布鲁克科技公司

申请人地址：

以色列米格达勒埃梅克

IPC主分类号：

G01N23/20008

IPC分类号：

G01N23/201 G01N23/207 H01J35/14

代理机构：

北京安信方达知识产权代理有限公司 11262

代理人：

王红英;杨明钊

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-08	授权	授权

共 50 条

[1]

用于小角X射线散射测量的晶片对准 [P].

尤里·文施泰因 ;

亚历山大·克罗赫马尔 ;

亚瑟·佩莱德 ;

盖伊·谢弗 ;

马修·沃明顿 .

中国专利 :CN110398505A ,2019-11-01

[2]

用于小角X射线散射测量的X射线检测光学器件 [P].

马修·沃明顿 ;

亚瑟·佩莱德 ;

亚历山大·克罗赫马尔 .

中国专利 :CN110398506A ,2019-11-01

[3]

用于小角X射线散射测量的X射线源光学器件 [P].

马修·沃明顿 ;

亚历山大·克罗赫马尔 ;

尤里·文施泰因 .

:CN110398507B ,2024-05-03

[4]

用于小角X射线散射测量的X射线检测光学器件 [P].

马修·沃明顿 ;

亚瑟·佩莱德 ;

亚历山大·克罗赫马尔 .

:CN110398506B ,2024-05-03

[5]

用于小角X射线散射测量的X射线源光学器件 [P].

马修·沃明顿 ;

亚历山大·克罗赫马尔 ;

尤里·文施泰因 .

中国专利 :CN110398507A ,2019-11-01

[6]

小角度X射线散射测量 [P].

亚历克斯·迪科波尔特塞夫 ;

马修·沃明顿 ;

尤里·文施泰因 ;

亚历山大·克罗赫马尔 .

:CN112654861B ,2024-06-11

[7]

小角度X射线散射测量 [P].

亚历克斯·迪科波尔特塞夫 ;

马修·沃明顿 ;

尤里·文施泰因 ;

亚历山大·克罗赫马尔 .

中国专利 :CN112654861A ,2021-04-13

[8]

小角度X射线散射测量 [P].

亚历克斯·迪科波尔特塞夫 ;

马修·沃明顿 ;

尤里·文施泰因 ;

亚历山大·克罗赫马尔 .

:CN118624653A ,2024-09-10

[9]

小角X射线散射仪 [P].

武美玲 .

中国专利 :CN216594875U ,2022-05-24

[10]

小角X射线散射仪 [P].

武美玲 .

中国专利 :CN113970566A ,2022-01-25

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