回归测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

被引:0
申请号
CN202210986985.4
申请日
2022-08-17
公开(公告)号
CN115470105A
公开(公告)日
2022-12-13
发明(设计)人
李绍斌 黎清顾 林永吉 李霞
申请人
申请人地址
519000 广东省珠海市前山金鸡西路
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京聿宏知识产权代理有限公司 11372
代理人
金淼;陈超德
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
回归测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
马玉 .
中国专利 :CN109597749B ,2019-04-09
[2]
回归测试方法和装置、计算机可读存储介质、电子设备 [P]. 
黄雨啸 ;
顾璇 .
中国专利 :CN118445206A ,2024-08-06
[3]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
刘正阳 .
中国专利 :CN110689285A ,2020-01-14
[4]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张丙振 .
中国专利 :CN112685282A ,2021-04-20
[5]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张丙振 .
中国专利 :CN112685282B ,2024-08-23
[6]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
罗航 .
中国专利 :CN112965903B ,2025-09-23
[7]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
罗航 .
中国专利 :CN112965903A ,2021-06-15
[8]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张丙振 .
中国专利 :CN112685281A ,2021-04-20
[9]
声音测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
檀飞翔 .
中国专利 :CN112699017A ,2021-04-23
[10]
性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
陈世强 .
中国专利 :CN112863545A ,2021-05-28