测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110251238.1

申请日：

2021-03-09

公开(公告)号：

CN112965903B

公开(公告)日：

2025-09-23

发明(设计)人：

罗航

申请人：

昆仑芯（北京）科技有限公司

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地十街10号1幢4层CW区

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

北京市通商律师事务所 11951

代理人：

巩靖;韩晶

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-23	授权	授权

共 50 条

[1]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

罗航 .

中国专利 :CN112965903A ,2021-06-15

[2]

测试装置、方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

王英广 ;

孔晓琳 ;

王健 ;

云星 ;

付有良 ;

陈志祥 .

中国专利 :CN118033366A ,2024-05-14

[3]

测试装置、方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

王英广 ;

孔晓琳 ;

王健 ;

云星 ;

付有良 ;

陈志祥 .

中国专利 :CN118033366B ,2024-10-18

[4]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读取存储介质 [P].

陈苗苗 .

中国专利 :CN115527153A ,2022-12-27

[5]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

马海英 ;

路利刚 ;

韩晶 .

中国专利 :CN110321292A ,2019-10-11

[6]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

刘正阳 .

中国专利 :CN110689285A ,2020-01-14

[7]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

张丙振 .

中国专利 :CN112685282A ,2021-04-20

[8]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

张丙振 .

中国专利 :CN112685282B ,2024-08-23

[9]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

佘西敏 ;

朱志杰 .

中国专利 :CN117112451B ,2024-02-09

[10]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

曲乐炜 ;

柯懂湘 .

中国专利 :CN114070752A ,2022-02-18

← 1 2 3 4 5 →