芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读取存储介质

被引：0

申请号：

CN202211194122.X

申请日：

2022-09-28

公开(公告)号：

CN115527153A

公开(公告)日：

2022-12-27

发明(设计)人：

陈苗苗

申请人：

申请人地址：

401120 重庆市渝北区仙桃街道数据谷中路107号14层

IPC主分类号：

G06V2050

IPC分类号：

G06V1025 G06V3010 G06V30146 G01R3128

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

肖鹏

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-27	公开	公开
2023-01-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06V 20/50 申请日:20220928

共 50 条

[1]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

罗航 .

中国专利 :CN112965903B ,2025-09-23

[2]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

罗航 .

中国专利 :CN112965903A ,2021-06-15

[3]

测试装置、方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

王英广 ;

孔晓琳 ;

王健 ;

云星 ;

付有良 ;

陈志祥 .

中国专利 :CN118033366A ,2024-05-14

[4]

测试装置、方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

王英广 ;

孔晓琳 ;

王健 ;

云星 ;

付有良 ;

陈志祥 .

中国专利 :CN118033366B ,2024-10-18

[5]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

马海英 ;

路利刚 ;

韩晶 .

中国专利 :CN110321292A ,2019-10-11

[6]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

谢登煌 .

中国专利 :CN116564399B ,2024-04-02

[7]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

刘孜 ;

谢登煌 .

中国专利 :CN120064933A ,2025-05-30

[8]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

郭向飞 .

中国专利 :CN113901745A ,2022-01-07

[9]

芯片检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

陈增亮 ;

李安平 ;

李晓白 ;

王伟 ;

刘乐 ;

张传益 ;

梅利文 .

中国专利 :CN119044726A ,2024-11-29

[10]

芯片检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

陈增亮 ;

李安平 ;

李晓白 ;

王伟 ;

刘乐 ;

张传益 ;

梅利文 .

中国专利 :CN119044726B ,2025-10-24

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