芯片检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411086177.8

申请日：

2024-08-08

公开(公告)号：

CN119044726B

公开(公告)日：

2025-10-24

发明(设计)人：

陈增亮李安平李晓白王伟刘乐张传益梅利文

申请人：

深圳米飞泰克科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

梁姗

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-24	授权	授权
2024-12-17	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240808
2024-11-29	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

陈增亮 ;

李安平 ;

李晓白 ;

王伟 ;

刘乐 ;

张传益 ;

梅利文 .

中国专利 :CN119044726A ,2024-11-29

[2]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读取存储介质 [P].

陈苗苗 .

中国专利 :CN115527153A ,2022-12-27

[3]

芯片测试方法、系统、芯片、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

黄运新 ;

杨亚飞 .

中国专利 :CN119936636A ,2025-05-06

[4]

系统检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

李海 .

中国专利 :CN111580870A ,2020-08-25

[5]

检测方法、检测系统、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

李生武 ;

周道利 .

中国专利 :CN118411534A ,2024-07-30

[6]

芯片标记方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

索鑫 .

中国专利 :CN113096113B ,2024-06-14

[7]

芯片标记方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

索鑫 .

中国专利 :CN113096113A ,2021-07-09

[8]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

罗航 .

中国专利 :CN112965903B ,2025-09-23

[9]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

罗航 .

中国专利 :CN112965903A ,2021-06-15

[10]

检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

余昆 ;

陈峰 .

中国专利 :CN118154564A ,2024-06-07

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