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芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111183789.5
申请日：
2021-10-11
公开(公告)号：
CN113901745A
公开(公告)日：
2022-01-07
发明(设计)人：
郭向飞
申请人：
申请人地址：
314400 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区双联路128号科创中心B座263室
IPC主分类号：
G06F3033
IPC分类号：
代理机构：
北京市立方律师事务所 11330
代理人：
张筱宁
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-01-25 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 30/33 申请日:20211011 |
| 2022-09-13 | 著录事项变更 | 著录事项变更 IPC(主分类):G06F 30/33 变更事项:申请人 变更前:海宁奕斯伟集成电路设计有限公司 变更后:海宁奕斯伟集成电路设计有限公司 变更事项:地址 变更前:314400 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区双联路128号科创中心B座263室 变更后:314400 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区双联路128号科创中心B座263室 变更事项:申请人 变更前:北京奕斯伟计算技术有限公司 变更后:北京奕斯伟计算技术股份有限公司 |
| 2022-01-07 | 公开 | 公开 |