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芯片测试方法、电子设备及计算机可读介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410004277.5
申请日：
2024-01-02
公开(公告)号：
CN120256214A
公开(公告)日：
2025-07-04
发明(设计)人：
武八一
申请人：
中兴通讯股份有限公司
申请人地址：
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦
IPC主分类号：
G06F11/22
IPC分类号：
代理机构：
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112
代理人：
彭瑞欣;张天舒
法律状态：
公开
国省代码：
山东省 青岛市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-04 公开 公开
共 50 条
[1]
芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
马海英 ;
路利刚 ;
韩晶 .
中国专利 :CN110321292A ,2019-10-11
[2]
芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN111105839B ,2020-05-05
[3]
芯片测试方法、系统、芯片、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
黄运新 ;
杨亚飞 .
中国专利 :CN119936636A ,2025-05-06
[4]
芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
谢登煌 .
中国专利 :CN116564399B ,2024-04-02
[5]
芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
刘孜 ;
谢登煌 .
中国专利 :CN120064933A ,2025-05-30
[6]
芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
郭向飞 .
中国专利 :CN113901745A ,2022-01-07
[7]
芯片测试系统、方法、计算机可读介质和电子设备 [P]. 
王达 ;
田雪 .
中国专利 :CN118584289A ,2024-09-03
[8]
芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读取存储介质 [P]. 
陈苗苗 .
中国专利 :CN115527153A ,2022-12-27
[9]
测试方法、电子设备和计算机可读介质 [P]. 
谭翔 ;
戢仁和 ;
王浩 .
中国专利 :CN114924950A ,2022-08-19
[10]
芯片功能验证方法及装置、计算机可读介质和电子设备 [P]. 
胡一汝 .
中国专利 :CN115017863A ,2022-09-06
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