芯片功能验证方法及装置、计算机可读介质和电子设备

被引：0

申请号：

CN202210603097.X

申请日：

2022-05-30

公开(公告)号：

CN115017863A

公开(公告)日：

2022-09-06

发明(设计)人：

胡一汝

申请人：

申请人地址：

523860 广东省东莞市长安镇乌沙海滨路18号

IPC主分类号：

G06F30398

IPC分类号：

G01R31317

代理机构：

深圳市联鼎知识产权代理有限公司 44232

代理人：

刘抗美

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 30/398 申请日:20220530
2022-09-06	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试方法、电子设备及计算机可读介质 [P].

武八一 .

中国专利 :CN120256214A ,2025-07-04

[2]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读取存储介质 [P].

陈苗苗 .

中国专利 :CN115527153A ,2022-12-27

[3]

芯片检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

陈增亮 ;

李安平 ;

李晓白 ;

王伟 ;

刘乐 ;

张传益 ;

梅利文 .

中国专利 :CN119044726A ,2024-11-29

[4]

芯片检测方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

陈增亮 ;

李安平 ;

李晓白 ;

王伟 ;

刘乐 ;

张传益 ;

梅利文 .

中国专利 :CN119044726B ,2025-10-24

[5]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

马海英 ;

路利刚 ;

韩晶 .

中国专利 :CN110321292A ,2019-10-11

[6]

芯片功能验证方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P].

李正玉 ;

胡旭 ;

徐光柳 .

中国专利 :CN113704043A ,2021-11-26

[7]

验证方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P].

玄勇 ;

蒋艳军 ;

赵轶新 ;

肖楠 .

中国专利 :CN117540363A ,2024-02-09

[8]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

罗航 .

中国专利 :CN112965903B ,2025-09-23

[9]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

罗航 .

中国专利 :CN112965903A ,2021-06-15

[10]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN111105839B ,2020-05-05

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