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测试方法、电子设备和计算机可读介质

被引：0
申请号：
CN202210434040.1
申请日：
2022-04-24
公开(公告)号：
CN114924950A
公开(公告)日：
2022-08-19
发明(设计)人：
谭翔 戢仁和 王浩
申请人：
申请人地址：
100096 北京市海淀区西三旗建材城内建中路12幢一层1268号
IPC主分类号：
G06F1136
IPC分类号：
代理机构：
北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319
代理人：
岳阳
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-08-19 公开 公开
2022-09-06 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220424
共 50 条
[1]
测试方法和装置、电子设备以及计算机可读存储介质 [P]. 
任亮 .
中国专利 :CN112988477A ,2021-06-18
[2]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P]. 
张鹏 .
中国专利 :CN112597047A ,2021-04-02
[3]
测试方法、系统、电子设备和计算机可读介质 [P]. 
黄栎桥 .
中国专利 :CN111176973A ,2020-05-19
[4]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P]. 
王蕾 ;
叶晨 ;
孟爽 ;
秦偲晟 .
中国专利 :CN111221727B ,2024-03-08
[5]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P]. 
王蕾 ;
叶晨 ;
孟爽 ;
秦偲晟 .
中国专利 :CN111221727A ,2020-06-02
[6]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P]. 
张鹏 .
中国专利 :CN112597047B ,2024-10-29
[7]
测试方法、系统、电子设备和计算机可读介质 [P]. 
黄栎桥 .
中国专利 :CN111176973B ,2024-02-02
[8]
芯片测试方法、电子设备及计算机可读介质 [P]. 
武八一 .
中国专利 :CN120256214A ,2025-07-04
[9]
测试方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
罗贤军 ;
张金鹏 ;
陈新斌 .
中国专利 :CN119865545A ,2025-04-22
[10]
色温测试方法及装置、计算机可读介质和电子设备 [P]. 
王文涛 .
中国专利 :CN113639881A ,2021-11-12
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