测试方法、系统、电子设备和计算机可读介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811351246.8

申请日：

2018-11-13

公开(公告)号：

CN111176973A

公开(公告)日：

2020-05-19

发明(设计)人：

黄栎桥

申请人：

申请人地址：

100086 北京市海淀区知春路76号8层

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

吕雁葭

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-02-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20181113
2020-05-19	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法、系统、电子设备和计算机可读介质 [P].

黄栎桥 .

中国专利 :CN111176973B ,2024-02-02

[2]

测试方法、测试系统、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

李鸣 ;

肖云 ;

张奎 ;

司骞 .

中国专利 :CN117806953A ,2024-04-02

[3]

芯片测试系统、方法、计算机可读介质和电子设备 [P].

王达 ;

田雪 .

中国专利 :CN118584289A ,2024-09-03

[4]

测试方法、电子设备和计算机可读介质 [P].

谭翔 ;

戢仁和 ;

王浩 .

中国专利 :CN114924950A ,2022-08-19

[5]

测试方法及其测试系统、电子设备、计算机可读存储介质 [P].

吴燕君 ;

汪孙阳 .

中国专利 :CN114978759B ,2024-03-22

[6]

测试系统、测试方法、电子设备以及计算机可读存储介质 [P].

侯文龙 ;

林科锵 ;

杨洋 ;

俞子波 .

中国专利 :CN110413527A ,2019-11-05

[7]

测试方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

王妙玉 ;

方定明 ;

周亮 ;

吴宁泉 ;

欧宝星 .

中国专利 :CN118353546A ,2024-07-16

[8]

测试方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P].

张鹏 .

中国专利 :CN112597047A ,2021-04-02

[9]

测试方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P].

王蕾 ;

叶晨 ;

孟爽 ;

秦偲晟 .

中国专利 :CN111221727B ,2024-03-08

[10]

测试方法、装置、电子设备和计算机可读介质 [P].

王蕾 ;

叶晨 ;

孟爽 ;

秦偲晟 .

中国专利 :CN111221727A ,2020-06-02

← 1 2 3 4 5 →