芯片可测试性设计方法、电子设备及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510532310.6

申请日：

2025-04-25

公开(公告)号：

CN120652270A

公开(公告)日：

2025-09-16

发明(设计)人：

彭敏强程琪

申请人：

深圳市中兴微电子技术有限公司

申请人地址：

518055 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区南山区西丽创研路2号中兴通讯工业园研2楼二层

IPC主分类号：

G01R31/3185

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

孙浩

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-16	公开	公开
2025-10-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/3185申请日:20250425

共 50 条

[1]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

郭向飞 .

中国专利 :CN113901745A ,2022-01-07

[2]

芯片设计方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

楼顺军 ;

梁尧 .

中国专利 :CN117829077A ,2024-04-05

[3]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

刘孜 ;

谢登煌 .

中国专利 :CN120064933A ,2025-05-30

[4]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读取存储介质 [P].

陈苗苗 .

中国专利 :CN115527153A ,2022-12-27

[5]

芯片设计方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

赵耀 .

中国专利 :CN116861837B ,2025-04-22

[6]

芯片测试方法、系统、芯片、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

黄运新 ;

杨亚飞 .

中国专利 :CN119936636A ,2025-05-06

[7]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

马海英 ;

路利刚 ;

韩晶 .

中国专利 :CN110321292A ,2019-10-11

[8]

芯片测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

谢登煌 .

中国专利 :CN116564399B ,2024-04-02

[9]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

徐立宇 ;

陈文极 ;

林震宇 ;

林晨 ;

林智泓 ;

陈艺辉 .

中国专利 :CN111159023A ,2020-05-15

[10]

模糊测试方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

张金鑫 ;

刘谈 ;

刘晖 ;

赵英俊 ;

夏云浩 .

中国专利 :CN117435506A ,2024-01-23

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