模糊测试方法、电子设备及计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311726019.X
申请日
2023-12-15
公开(公告)号
CN117435506A
公开(公告)日
2024-01-23
发明(设计)人
张金鑫 刘谈 刘晖 赵英俊 夏云浩
申请人
中兴通讯股份有限公司
申请人地址
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
代理机构
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112
代理人
冯建基;彭瑞欣
法律状态
授权
国省代码
山东省 青岛市
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共 50 条
[1]
模糊测试方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张金鑫 ;
刘谈 ;
刘晖 ;
赵英俊 ;
夏云浩 .
中国专利 :CN117435506B ,2024-04-16
[2]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
佘西敏 ;
朱志杰 .
中国专利 :CN117112451B ,2024-02-09
[3]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
曲乐炜 ;
柯懂湘 .
中国专利 :CN114070752A ,2022-02-18
[4]
模糊测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
胡进 ;
刘明 .
中国专利 :CN117950979A ,2024-04-30
[5]
串口测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
黄晓微 .
中国专利 :CN119088632A ,2024-12-06
[6]
代码测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
王砺磊 ;
侯睿 .
中国专利 :CN115061923A ,2022-09-16
[7]
黑盒模糊测试方法、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
房思勤 ;
张金鑫 ;
赵英俊 ;
夏云浩 ;
赵尹源 .
中国专利 :CN118733425A ,2024-10-01
[8]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
罗航 .
中国专利 :CN112965903B ,2025-09-23
[9]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
罗航 .
中国专利 :CN112965903A ,2021-06-15
[10]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
彭晓茂 .
中国专利 :CN108089982B ,2018-05-29