模糊测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211288873.8
申请日
2022-10-20
公开(公告)号
CN117950979A
公开(公告)日
2024-04-30
发明(设计)人
胡进 刘明
申请人
奇安信科技集团股份有限公司 奇安信安全技术(珠海)有限公司
申请人地址
100032 北京市西城区新街口外大街28号102号楼3层332号
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
G06N7/02
代理机构
北京维飞联创知识产权代理有限公司 11857
代理人
逯恒
法律状态
公开
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
模糊测试方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张金鑫 ;
刘谈 ;
刘晖 ;
赵英俊 ;
夏云浩 .
中国专利 :CN117435506A ,2024-01-23
[2]
模糊测试方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张金鑫 ;
刘谈 ;
刘晖 ;
赵英俊 ;
夏云浩 .
中国专利 :CN117435506B ,2024-04-16
[3]
模糊处理方法、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
彭冠奇 ;
王超群 ;
段潇潇 ;
原琳杰 ;
涂林林 .
中国专利 :CN120725943A ,2025-09-30
[4]
界面模糊方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
顾文斌 .
中国专利 :CN119440221A ,2025-02-14
[5]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
郝云昇 ;
高峰 .
中国专利 :CN111831566B ,2025-05-09
[6]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
顾振飞 .
中国专利 :CN112306880A ,2021-02-02
[7]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
郝云昇 ;
高峰 .
中国专利 :CN111831566A ,2020-10-27
[8]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
杨洋 ;
潘丽丽 ;
田燕红 ;
付新丽 .
中国专利 :CN110532185A ,2019-12-03
[9]
电子设备测试方法、装置和计算机可读存储介质 [P]. 
黄河 ;
萧与芳 ;
邓文平 .
中国专利 :CN110399743A ,2019-11-01
[10]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
李晓君 ;
张继元 .
中国专利 :CN120540916A ,2025-08-26