测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910811371.0
申请日
2019-08-29
公开(公告)号
CN110532185A
公开(公告)日
2019-12-03
发明(设计)人
杨洋 潘丽丽 田燕红 付新丽
申请人
申请人地址
100140 北京市西城区复兴门内大街55号
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
鄢功军
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
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共 50 条
[1]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
李晓君 ;
张继元 .
中国专利 :CN120540916A ,2025-08-26
[2]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
郝云昇 ;
高峰 .
中国专利 :CN111831566B ,2025-05-09
[3]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
顾振飞 .
中国专利 :CN112306880A ,2021-02-02
[4]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
郝云昇 ;
高峰 .
中国专利 :CN111831566A ,2020-10-27
[5]
电子设备测试方法、装置和计算机可读存储介质 [P]. 
黄河 ;
萧与芳 ;
邓文平 .
中国专利 :CN110399743A ,2019-11-01
[6]
测试方法及装置、电子设备、计算机可读存储介质 [P]. 
刘君 .
中国专利 :CN111625447A ,2020-09-04
[7]
软件测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
周勇钧 .
中国专利 :CN114356745B ,2025-07-15
[8]
软件测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
周勇钧 .
中国专利 :CN114356745A ,2022-04-15
[9]
接口测试装置、方法、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
朱仲毅 ;
易蕾 ;
朱怡雯 ;
崔东晓 .
中国专利 :CN111597120A ,2020-08-28
[10]
测试方法、测试装置、计算机可读存储介质及电子设备 [P]. 
付雯 ;
蒋皓 ;
陈锦海 .
中国专利 :CN120336174A ,2025-07-18