电子设备测试方法、装置和计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910703119.8
申请日
2019-07-31
公开(公告)号
CN110399743A
公开(公告)日
2019-11-01
发明(设计)人
黄河 萧与芳 邓文平
申请人
申请人地址
518057 广东省深圳市南山区粤海街道高新区高新南七道数字技术园A3栋6楼
IPC主分类号
G06F2160
IPC分类号
G06F2162 G06F2144
代理机构
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
杨欢
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
李晓君 ;
张继元 .
中国专利 :CN120540916A ,2025-08-26
[2]
性能测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
郗睿 .
中国专利 :CN120353678A ,2025-07-22
[3]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
郝云昇 ;
高峰 .
中国专利 :CN111831566B ,2025-05-09
[4]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
顾振飞 .
中国专利 :CN112306880A ,2021-02-02
[5]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
郝云昇 ;
高峰 .
中国专利 :CN111831566A ,2020-10-27
[6]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
杨洋 ;
潘丽丽 ;
田燕红 ;
付新丽 .
中国专利 :CN110532185A ,2019-12-03
[7]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
何小龙 ;
吴智明 ;
王浩 ;
何燕飞 ;
林顺 .
中国专利 :CN113656289A ,2021-11-16
[8]
设备测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
步森 ;
刘洁 ;
张红兵 .
中国专利 :CN118796579A ,2024-10-18
[9]
设备测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
朱燕雄 ;
叶强 ;
陈木崇 ;
王楠 ;
朱燕升 ;
赵燕 .
中国专利 :CN117834058A ,2024-04-05
[10]
设备测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
汪洋 ;
涂少雄 ;
温小松 ;
解梦星 ;
安志忠 .
中国专利 :CN120994480A ,2025-11-21