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性能测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510491228.3
申请日：
2025-04-18
公开(公告)号：
CN120353678A
公开(公告)日：
2025-07-22
发明(设计)人：
郗睿
申请人：
苏州元脑智能科技有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市吴中经济开发区综保区经一路1号8幢
IPC主分类号：
G06F11/34
IPC分类号：
G06F11/32
代理机构：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人：
黄琼
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-22 公开 公开
2025-08-08 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/34申请日:20250418
共 50 条
[1]
性能测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
翟静 .
中国专利 :CN114567571A ,2022-05-31
[2]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
李晓君 ;
张继元 .
中国专利 :CN120540916A ,2025-08-26
[3]
性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
蔡璐珑 ;
郑志晓 ;
祁玉晓 ;
祖国强 ;
何鹏 ;
何俏君 .
中国专利 :CN118193256A ,2024-06-14
[4]
性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张俊超 ;
靳铃花 ;
李玉梅 ;
梁文艳 ;
刘云 ;
梁佳 .
中国专利 :CN117873806A ,2024-04-12
[5]
性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
陈世强 .
中国专利 :CN112863545A ,2021-05-28
[6]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
顾振飞 .
中国专利 :CN112306880A ,2021-02-02
[7]
性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张震 .
中国专利 :CN110309038B ,2019-10-08
[8]
电子设备测试方法、装置和计算机可读存储介质 [P]. 
黄河 ;
萧与芳 ;
邓文平 .
中国专利 :CN110399743A ,2019-11-01
[9]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
何小龙 ;
吴智明 ;
王浩 ;
何燕飞 ;
林顺 .
中国专利 :CN113656289A ,2021-11-16
[10]
测试方法、测试系统、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
李鸣 ;
肖云 ;
张奎 ;
司骞 .
中国专利 :CN117806953A ,2024-04-02
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