性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910310587.9
申请日
2019-04-17
公开(公告)号
CN110309038B
公开(公告)日
2019-10-08
发明(设计)人
张震
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市福田区益田路5033号平安金融中心14、15、16、41、44、45、46层
IPC主分类号
G06F1134
IPC分类号
代理机构
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334
代理人
周志伟
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
蔡璐珑 ;
郑志晓 ;
祁玉晓 ;
祖国强 ;
何鹏 ;
何俏君 .
中国专利 :CN118193256A ,2024-06-14
[2]
性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张俊超 ;
靳铃花 ;
李玉梅 ;
梁文艳 ;
刘云 ;
梁佳 .
中国专利 :CN117873806A ,2024-04-12
[3]
性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
陈世强 .
中国专利 :CN112863545A ,2021-05-28
[4]
性能测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
翟静 .
中国专利 :CN114567571A ,2022-05-31
[5]
性能测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
郗睿 .
中国专利 :CN120353678A ,2025-07-22
[6]
性能测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
贾献鹤 ;
陶莎 .
中国专利 :CN108536571A ,2018-09-14
[7]
集群性能测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
张志成 ;
董杰 ;
许明珍 .
中国专利 :CN118158135A ,2024-06-07
[8]
测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
顾振飞 .
中国专利 :CN112306880A ,2021-02-02
[9]
测试方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
罗贤军 ;
张金鹏 ;
陈新斌 .
中国专利 :CN119865545A ,2025-04-22
[10]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
陈友洋 .
中国专利 :CN113485931A ,2021-10-08