代码测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

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申请号
CN202210734497.4
申请日
2022-06-25
公开(公告)号
CN115061923A
公开(公告)日
2022-09-16
发明(设计)人
王砺磊 侯睿
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市罗湖区深南东路5047号
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280
代理人
李申
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
佘西敏 ;
朱志杰 .
中国专利 :CN117112451B ,2024-02-09
[2]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
曲乐炜 ;
柯懂湘 .
中国专利 :CN114070752A ,2022-02-18
[3]
串口测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
黄晓微 .
中国专利 :CN119088632A ,2024-12-06
[4]
模糊测试方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张金鑫 ;
刘谈 ;
刘晖 ;
赵英俊 ;
夏云浩 .
中国专利 :CN117435506A ,2024-01-23
[5]
模糊测试方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张金鑫 ;
刘谈 ;
刘晖 ;
赵英俊 ;
夏云浩 .
中国专利 :CN117435506B ,2024-04-16
[6]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
罗航 .
中国专利 :CN112965903B ,2025-09-23
[7]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
罗航 .
中国专利 :CN112965903A ,2021-06-15
[8]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
彭晓茂 .
中国专利 :CN108089982B ,2018-05-29
[9]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
何小龙 ;
王浩 ;
练素琼 ;
何燕飞 ;
林顺 .
中国专利 :CN115640220A ,2023-01-24
[10]
测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
何小龙 ;
吴智明 ;
王浩 ;
何燕飞 ;
林顺 .
中国专利 :CN113656289A ,2021-11-16