用于分析材料的装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201580085205.7

申请日：

2015-12-09

公开(公告)号：

CN108369182A

公开(公告)日：

2018-08-03

发明(设计)人：

亚力山大·鲍尔奥托·赫茨伯格托尔斯腾·卢宾斯基

申请人：

申请人地址：

德国柏林

IPC主分类号：

G01N2117

IPC分类号：

G01N21552 A61B5145 A61B51455 G01N3349 G01N2163

代理机构：

北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204

代理人：

王达佐;王艳春

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-01-21	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01N 21/17 变更事项:申请人变更前:迪亚蒙泰克有限公司变更后:迪亚蒙泰克股份有限公司变更事项:地址变更前:德国柏林变更后:德国柏林伯克斯哈根大街82号
2018-08-03	公开	公开
2021-10-15	授权	授权
2018-12-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/17 申请日:20151209

共 50 条

[1]

用于分析材料的装置和方法 [P].

亚力山大·鲍尔 ;

奥托·赫茨伯格 ;

托尔斯腾·卢宾斯基 .

中国专利 :CN108369183B ,2018-08-03

[2]

用于分析材料的方法和设备 [P].

安德烈·加布里埃尔·皮得考克 ;

罗宾·格林伍德-史密斯 ;

特雷弗·霍伊尔 .

中国专利 :CN102187206A ,2011-09-14

[3]

用于分析物质的装置和方法 [P].

托尔斯腾·卢宾斯基 ;

乌韦·施里克 .

德国专利 :CN111788482B ,2024-04-26

[4]

用于样品分析的装置和方法 [P].

J·B·赫夫 ;

M·A·海登 ;

G·戴维斯 ;

S·格什坦 .

中国专利 :CN109863396A ,2019-06-07

[5]

用于分析物质的装置和方法 [P].

托尔斯腾·卢宾斯基 ;

乌韦·施里克 .

中国专利 :CN111788482A ,2020-10-16

[6]

用于样品分析的装置和方法 [P].

M·A·海登 ;

J·B·哈夫 ;

N·J·科利尔 ;

K·X·Z·余 .

美国专利 :CN114026421B ,2025-05-27

[7]

用于样品分析的装置和方法 [P].

M·A·海登 ;

J·B·哈夫 ;

N·J·科利尔 ;

K·X·Z·余 .

中国专利 :CN114026421A ,2022-02-08

[8]

用于样品材料谱系分析的装置和方法 [P].

塞巴斯蒂安·博姆 ;

安德烈亚斯·哈泽 .

德国专利 :CN118824837A ,2024-10-22

[9]

用于检测分析物的装置和方法 [P].

L.阿米尔 ;

G.安德森 .

中国专利 :CN108226482A ,2018-06-29

[10]

用于检测分析物的装置和方法 [P].

葛胜祥 ;

张晶 ;

戴伟明 ;

张军 ;

夏宁邵 .

中国专利 :CN105424940A ,2016-03-23

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