用于分析物质的装置和方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201880078241.4
申请日
2018-12-04
公开(公告)号
CN111788482A
公开(公告)日
2020-10-16
发明(设计)人
托尔斯腾·卢宾斯基 乌韦·施里克
申请人
申请人地址
德国柏林伯克斯哈根大街82号
IPC主分类号
G01N3349
IPC分类号
A61B500 A61B5145 G01N2117 G01N2139
代理机构
北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204
代理人
王达佐;王艳春
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
用于分析物质的装置和方法 [P]. 
托尔斯腾·卢宾斯基 ;
乌韦·施里克 .
德国专利 :CN111788482B ,2024-04-26
[2]
用于分析物质的设备和方法 [P]. 
乌韦·施里克 ;
威尔弗里德·诺埃尔 ;
托尔斯腾·卢宾斯基 .
中国专利 :CN112955075A ,2021-06-11
[3]
用于分析物质的设备和方法 [P]. 
乌韦·施里克 ;
威尔弗里德·诺埃尔 ;
托尔斯腾·卢宾斯基 .
德国专利 :CN112955075B ,2024-06-14
[4]
用于分析材料的装置和方法 [P]. 
亚力山大·鲍尔 ;
奥托·赫茨伯格 ;
托尔斯腾·卢宾斯基 .
中国专利 :CN108369182A ,2018-08-03
[5]
用于分析材料的装置和方法 [P]. 
亚力山大·鲍尔 ;
奥托·赫茨伯格 ;
托尔斯腾·卢宾斯基 .
中国专利 :CN108369183B ,2018-08-03
[6]
用于通过离子迁移谱来分析物质的分析装置和方法 [P]. 
斯特凡·齐默尔曼 ;
安斯加尔·基尔克 ;
克里斯蒂安-罗伯特·拉达茨 ;
克里斯蒂安·托本 .
中国专利 :CN112292596A ,2021-01-29
[7]
用于检测物质的装置和方法 [P]. 
O·沃斯特 ;
M·勒-胡 .
中国专利 :CN101779121A ,2010-07-14
[8]
用于分析的装置和方法 [P]. 
S·福勒斯塔 ;
K·伦德斯特伦 ;
G·厄斯特林 .
中国专利 :CN1425131A ,2003-06-18
[9]
确定物质振荡模式的分析装置和方法 [P]. 
R·霍夫曼 .
德国专利 :CN117730253A ,2024-03-19
[10]
一种用于检测被分析物质的检测装置和方法 [P]. 
黄富强 ;
陆维克 ;
吴银飞 ;
高飞 .
中国专利 :CN101078724B ,2007-11-28