测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质

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申请号
CN202210746072.5
申请日
2022-06-28
公开(公告)号
CN115145812A
公开(公告)日
2022-10-04
发明(设计)人
焦佳成
申请人
申请人地址
100085 北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京易光知识产权代理有限公司 11596
代理人
阎敏;徐升升
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
林晓升 .
中国专利 :CN117827675A ,2024-04-05
[2]
测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
黄礼坤 ;
蒋剑琴 .
中国专利 :CN114201382A ,2022-03-18
[3]
测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
郑睿莘 .
中国专利 :CN113704083B ,2025-07-18
[4]
测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
焦佳成 .
中国专利 :CN117971698A ,2024-05-03
[5]
测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
黄万民 ;
陈振宇 ;
张晋桂 ;
郭超 ;
杨鹏 ;
郑海涛 ;
林怡坤 .
中国专利 :CN114048147B ,2022-02-15
[6]
测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
郑睿莘 .
中国专利 :CN113704083A ,2021-11-26
[7]
测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
肖敏 .
中国专利 :CN120994554A ,2025-11-21
[8]
测试用例的生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
李旺 ;
琚军军 ;
刘智琼 ;
王昌 ;
刘静 .
中国专利 :CN117389890A ,2024-01-12
[9]
测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
潘超 ;
曾现芹 ;
杨青 ;
崔勋 .
中国专利 :CN115437947A ,2022-12-06
[10]
测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王崇娇 .
中国专利 :CN119961177A ,2025-05-09