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测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0
申请号：
CN202211138834.X
申请日：
2022-09-19
公开(公告)号：
CN115437947A
公开(公告)日：
2022-12-06
发明(设计)人：
潘超 曾现芹 杨青 崔勋
申请人：
申请人地址：
266500 山东省青岛市经济技术开发区海尔开发区工业园
IPC主分类号：
G06F1136
IPC分类号：
代理机构：
北京瀚仁知识产权代理事务所(普通合伙) 11482
代理人：
陈敏
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-12-23 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220919
2022-12-06 公开 公开
共 50 条
[1]
测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
黄礼坤 ;
蒋剑琴 .
中国专利 :CN114201382A ,2022-03-18
[2]
测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
郑睿莘 .
中国专利 :CN113704083B ,2025-07-18
[3]
测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
黄万民 ;
陈振宇 ;
张晋桂 ;
郭超 ;
杨鹏 ;
郑海涛 ;
林怡坤 .
中国专利 :CN114048147B ,2022-02-15
[4]
测试用例生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
郑睿莘 .
中国专利 :CN113704083A ,2021-11-26
[5]
测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王崇娇 .
中国专利 :CN119961177A ,2025-05-09
[6]
测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
肖敏 .
中国专利 :CN120994554A ,2025-11-21
[7]
测试用例生成方法、装置、电子设备及介质 [P]. 
郭建文 ;
符云越 ;
席鑫 .
中国专利 :CN119248635A ,2025-01-03
[8]
测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
林晓升 .
中国专利 :CN117827675A ,2024-04-05
[9]
测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
焦佳成 .
中国专利 :CN117971698A ,2024-05-03
[10]
测试用例生成方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
焦佳成 .
中国专利 :CN115145812A ,2022-10-04
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