一种电源芯片测试电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910689042.3

申请日：

2019-07-29

公开(公告)号：

CN110470972A

公开(公告)日：

2019-11-19

发明(设计)人：

李颖超

申请人：

申请人地址：

510620 广东省广州市天河区黄埔大道西平云路163号A塔9层自编01单元

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R3140

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

古利兰

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-02	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20191119
2019-11-19	公开	公开
2019-12-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20190729

共 50 条

[1]

一种智能电源芯片的测试电路 [P].

谢晓昆 .

中国专利 :CN204740322U ,2015-11-04

[2]

电源芯片中MOSFET的测试电路 [P].

潘雷 .

中国专利 :CN206057437U ,2017-03-29

[3]

电源管理芯片测试电路及电源管理芯片测试系统 [P].

李安平 ;

邓海军 ;

王健 ;

舒雄 ;

云星 ;

李建强 ;

孔晓琳 ;

王英广 .

中国专利 :CN211374961U ,2020-08-28

[4]

集成通信功能的电源芯片测试电路 [P].

李英才 .

中国专利 :CN210690753U ,2020-06-05

[5]

一种电源芯片、电源芯片测试系统及测试方法 [P].

陈胜虎 .

中国专利 :CN118962514A ,2024-11-15

[6]

一种电源芯片、电源芯片测试系统及测试方法 [P].

陈胜虎 .

中国专利 :CN118962514B ,2025-04-04

[7]

一种电源管理芯片的修调测试电路以及电源管理芯片 [P].

魏汝新 ;

唐沛寅 .

中国专利 :CN205861854U ,2017-01-04

[8]

一种电源管理芯片的修调测试电路以及电源管理芯片 [P].

魏汝新 ;

唐沛寅 .

中国专利 :CN106093755A ,2016-11-09

[9]

一种电源芯片电路 [P].

李瑞平 ;

池伟 ;

王建虎 ;

刘彬 .

中国专利 :CN112260229B ,2021-01-22

[10]

电源测试电路 [P].

周海清 .

中国专利 :CN103901355A ,2014-07-02

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