学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种智能电源芯片的测试电路
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201520371245.5
申请日
:
2015-06-02
公开(公告)号
:
CN204740322U
公开(公告)日
:
2015-11-04
发明(设计)人
:
谢晓昆
申请人
:
申请人地址
:
523000 广东省东莞市万江区莫屋社区莫屋新村工业区
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215
代理人
:
刘克宽
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2015-11-04
授权
授权
共 50 条
[1]
一种电源芯片测试电路
[P].
李颖超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李颖超
.
中国专利
:CN110470972A
,2019-11-19
[2]
电源芯片中MOSFET的测试电路
[P].
潘雷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
潘雷
.
中国专利
:CN206057437U
,2017-03-29
[3]
一种测试芯片的测试电路
[P].
全光浩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
和芯半导体科技(苏州)有限公司
和芯半导体科技(苏州)有限公司
全光浩
;
崔松一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
和芯半导体科技(苏州)有限公司
和芯半导体科技(苏州)有限公司
崔松一
.
中国专利
:CN222838157U
,2025-05-06
[4]
集成通信功能的电源芯片测试电路
[P].
李英才
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李英才
.
中国专利
:CN210690753U
,2020-06-05
[5]
一种芯片测试电路
[P].
全光浩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
和芯半导体科技(苏州)有限公司
和芯半导体科技(苏州)有限公司
全光浩
;
崔松一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
和芯半导体科技(苏州)有限公司
和芯半导体科技(苏州)有限公司
崔松一
.
中国专利
:CN222838158U
,2025-05-06
[6]
一种智能电源芯片的电路板检测设备
[P].
连光为
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
连光为
.
中国专利
:CN114509663A
,2022-05-17
[7]
电源管理芯片测试电路及电源管理芯片测试系统
[P].
李安平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李安平
;
邓海军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邓海军
;
王健
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王健
;
舒雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
舒雄
;
云星
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
云星
;
李建强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李建强
;
孔晓琳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孔晓琳
;
王英广
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王英广
.
中国专利
:CN211374961U
,2020-08-28
[8]
一种电源管理芯片的修调测试电路以及电源管理芯片
[P].
魏汝新
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
魏汝新
;
唐沛寅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐沛寅
.
中国专利
:CN205861854U
,2017-01-04
[9]
一种适用于芯片的电源测试电路
[P].
全光浩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
和芯半导体科技(苏州)有限公司
和芯半导体科技(苏州)有限公司
全光浩
;
崔松一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
和芯半导体科技(苏州)有限公司
和芯半导体科技(苏州)有限公司
崔松一
.
中国专利
:CN222420493U
,2025-01-28
[10]
一种芯片电源电路的短路测试仪
[P].
孔凡平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孔凡平
;
杨京
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨京
;
杨小竹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨小竹
.
中国专利
:CN210181588U
,2020-03-24
←
1
2
3
4
5
→