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基于多光谱分光成像的表面缺陷自动光学检测系统及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010681840.4
申请日
:
2020-07-15
公开(公告)号
:
CN111830046B
公开(公告)日
:
2020-10-27
发明(设计)人
:
杨华
尹周平
常靖昀
李俊逸
申请人
:
申请人地址
:
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
IPC主分类号
:
G01N2188
IPC分类号
:
代理机构
:
华中科技大学专利中心 42201
代理人
:
石梦雅;李智
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-10-27
公开
公开
2021-10-08
授权
授权
2020-11-13
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20200715
共 50 条
[1]
自动光学检测系统及缺陷检测方法
[P].
张青
论文数:
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
张青
;
沈鸿翔
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
沈鸿翔
;
王志东
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
王志东
;
唐浩
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
唐浩
;
程久阳
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
程久阳
;
张俊瑞
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
张俊瑞
;
周全国
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
周全国
;
贺华强
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
贺华强
;
王利
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
王利
;
赵泾鸣
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
赵泾鸣
;
孙秀茹
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
孙秀茹
;
郭萌
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
郭萌
;
朱学辉
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
朱学辉
.
中国专利
:CN118883578A
,2024-11-01
[2]
自动光学检测方法及自动光学检测系统
[P].
王彦赓
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0
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机构:
重庆康佳光电科技有限公司
重庆康佳光电科技有限公司
王彦赓
.
中国专利
:CN118501168A
,2024-08-16
[3]
一种基于多光谱成像的产品表面缺陷检测系统
[P].
王洋
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王洋
;
陈果
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陈果
;
毛雪慧
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毛雪慧
;
闫龑
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0
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闫龑
.
中国专利
:CN110441312A
,2019-11-12
[4]
一种基于垫片表面缺陷自动光学检测方法及系统
[P].
卢志强
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机构:
无锡职业技术学院
无锡职业技术学院
卢志强
;
严帅
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机构:
无锡职业技术学院
无锡职业技术学院
严帅
;
孙宇畅
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机构:
无锡职业技术学院
无锡职业技术学院
孙宇畅
.
中国专利
:CN119643448A
,2025-03-18
[5]
自动光学检测方法及应用其的自动光学检测系统
[P].
林宽宏
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0
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林宽宏
.
中国专利
:CN110715941B
,2020-01-21
[6]
自动光学检测方法及实施该方法的自动光学检测系统
[P].
黄仁助
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黄仁助
;
陈鑫舜
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陈鑫舜
;
沈克昌
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沈克昌
;
曾国斌
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曾国斌
;
林雍健
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林雍健
;
王纬
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王纬
.
中国专利
:CN104515862A
,2015-04-15
[7]
用于表面异物检测的自动光学检测系统
[P].
林伯聪
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0
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林伯聪
;
陈延松
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陈延松
.
中国专利
:CN108303431A
,2018-07-20
[8]
自动光学检测系统及方法
[P].
王忠强
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王忠强
;
耿磊
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耿磊
.
中国专利
:CN102866166A
,2013-01-09
[9]
自动光学检测方法、自动光学检测系统及记录媒体
[P].
古承伟
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机构:
环球晶圆股份有限公司
环球晶圆股份有限公司
古承伟
;
王上棋
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机构:
环球晶圆股份有限公司
环球晶圆股份有限公司
王上棋
;
李佳烨
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机构:
环球晶圆股份有限公司
环球晶圆股份有限公司
李佳烨
.
中国专利
:CN114972152B
,2025-08-08
[10]
基于CNC的自动光学检测系统
[P].
张蓉
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张蓉
;
叶春
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叶春
.
中国专利
:CN106813573A
,2017-06-09
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