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一种基于垫片表面缺陷自动光学检测方法及系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411890036.1
申请日
:
2024-12-20
公开(公告)号
:
CN119643448A
公开(公告)日
:
2025-03-18
发明(设计)人
:
卢志强
严帅
孙宇畅
申请人
:
无锡职业技术学院
申请人地址
:
214122 江苏省无锡市高浪西路1600号
IPC主分类号
:
G01N21/01
IPC分类号
:
G01N21/95
B07C5/342
B07C5/36
B07C5/02
代理机构
:
长沙大珂知识产权代理事务所(普通合伙) 43236
代理人
:
袁得志
法律状态
:
公开
国省代码
:
江苏省 无锡市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-03-18
公开
公开
2025-04-04
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/01申请日:20241220
共 50 条
[1]
一种PCB表面缺陷自动光学检测装置
[P].
蔡明成
论文数:
0
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蔡明成
;
蔡明芳
论文数:
0
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蔡明芳
.
中国专利
:CN216208521U
,2022-04-05
[2]
高反光柱面工件表面缺陷自动光学检测方法、系统及存储介质
[P].
徐荣来
论文数:
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机构:
上海库灵科技有限公司
上海库灵科技有限公司
徐荣来
;
王涛
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机构:
上海库灵科技有限公司
上海库灵科技有限公司
王涛
.
中国专利
:CN118501148A
,2024-08-16
[3]
一种基于光学技术的工件表面缺陷检测方法及系统
[P].
邵雅斌
论文数:
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机构:
浙江树人学院
浙江树人学院
邵雅斌
;
洪杨
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机构:
浙江树人学院
浙江树人学院
洪杨
;
翟新萍
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机构:
浙江树人学院
浙江树人学院
翟新萍
;
陈晨
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机构:
浙江树人学院
浙江树人学院
陈晨
;
陈杰
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机构:
浙江树人学院
浙江树人学院
陈杰
;
罗雯
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机构:
浙江树人学院
浙江树人学院
罗雯
;
何芳
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机构:
浙江树人学院
浙江树人学院
何芳
.
中国专利
:CN119413802A
,2025-02-11
[4]
基于多光谱分光成像的表面缺陷自动光学检测系统及方法
[P].
杨华
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杨华
;
尹周平
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尹周平
;
常靖昀
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常靖昀
;
李俊逸
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0
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0
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李俊逸
.
中国专利
:CN111830046B
,2020-10-27
[5]
一种表面缺陷检测方法、装置及覆膜机自动光学检测设备
[P].
金国善
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机构:
深圳市奈尔森科技有限公司
深圳市奈尔森科技有限公司
金国善
.
中国专利
:CN117890430A
,2024-04-16
[6]
自动光学检测系统及缺陷检测方法
[P].
张青
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
张青
;
沈鸿翔
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
沈鸿翔
;
王志东
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
王志东
;
唐浩
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
唐浩
;
程久阳
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
程久阳
;
张俊瑞
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
张俊瑞
;
周全国
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
周全国
;
贺华强
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
贺华强
;
王利
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
王利
;
赵泾鸣
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
赵泾鸣
;
孙秀茹
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
孙秀茹
;
郭萌
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
郭萌
;
朱学辉
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机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
朱学辉
.
中国专利
:CN118883578A
,2024-11-01
[7]
一种自动光学检测伪缺陷去除方法及系统
[P].
李凡
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李凡
;
杨海东
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杨海东
;
徐康康
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徐康康
;
朱成就
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朱成就
;
印四华
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印四华
.
中国专利
:CN111489337A
,2020-08-04
[8]
一种面向PCB缺陷检测的自动光学检测系统
[P].
高邦统
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0
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0
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高邦统
.
中国专利
:CN215218601U
,2021-12-17
[9]
一种自动光学检测设备及方法
[P].
王锦峰
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王锦峰
;
张敏
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张敏
.
中国专利
:CN104535583A
,2015-04-22
[10]
一种材料表面缺陷的超分辨光学检测系统和方法
[P].
马庆
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0
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0
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机构:
度微检测技术(杭州)有限公司
度微检测技术(杭州)有限公司
马庆
;
余洋
论文数:
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机构:
度微检测技术(杭州)有限公司
度微检测技术(杭州)有限公司
余洋
.
中国专利
:CN121049276A
,2025-12-02
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